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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修
冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修

露點

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

Simplelink傳感器控制器是的16位處理單元(CPU)核心,在活動模式、待機模式和啟動耗能階段均只消耗極低功率。如圖2所示,該傳感器控制器包括模擬和數(shù)字外圍設(shè)備,它們專為實現(xiàn)超低功率而進行了優(yōu)化。利用這些外圍設(shè)備和2MHz時鐘模式,使得該控制器非常適合感應(yīng)式測量應(yīng)用,從而實現(xiàn)超低功率:,基于感應(yīng)式測量原則,可以在100Hz時達到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情,請參閱流量表應(yīng)用示例,閱讀“采用CC13x2R無線MCU的單芯片流量表解決方案。冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手擰緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手擰緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。

設(shè)備測量時間需要510分鐘,其后每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。紅外線測溫儀的標準化檢定方法是采用黑體爐檢定。黑體是指在任何情況下對一切波長的入射輻射的吸收率都等于1的物體,黑體是一種理想化的物體模型,因此引入了一個隨材料性質(zhì)及表面狀態(tài)變化的輻射系數(shù),即發(fā)射率,它的定義為實際物體與同溫度黑體輻射性能之比。物體的輻射與吸收紅外輻射規(guī)律滿足基爾霍夫定律,當一束輻射投射到任一物體表面時,根據(jù)能量守恒原理,物體對入射輻射的吸收率、反射率、透過率三者之和必等于1,一般發(fā)射率不容易測定,通??赏ㄟ^測量吸收率來確定發(fā)射率,所以黑體輻射源作為輻射標準用來檢定紅外輻射源的輻射強度。冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。

干擾源、相合途徑及敏感設(shè)備是電磁兼容的三要素,缺一不可。電磁兼容的詳細內(nèi)容如所示。電磁兼容如所示,電磁干擾信號的耦合途徑有傳導(dǎo)和輻射兩種。而根據(jù)耦合結(jié)果不同,干擾又分為共模干擾和差模干擾,共模干擾存在于所有的信號線(包括信號線、數(shù)據(jù)線和電源線等)和地線之間,而差模干擾存在于信號線之間。提高電磁兼容性措施的有三個方面:提高電子設(shè)備本身的EMC性能、對輻射性耦合使用技術(shù)加以、對傳導(dǎo)耦取隔離加以。冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設(shè)備進行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。標準中均涉及一項重要測試即振動(復(fù)合溫度)試驗,本文以下將重點介紹利用艾德克斯IT6400系列電源,對**氣囊系統(tǒng)進行振動模擬測試。振動(復(fù)合溫度)試驗振動(復(fù)合溫度)試驗是將**氣囊系統(tǒng)置于一定的溫濕度條件下,同時按規(guī)定的周期將電振動應(yīng)力施加到待測**氣囊上,去模擬待測物在運輸過程中或者汽車行駛在不同道路狀況下對于**氣囊的振動疲勞破壞,更客觀評價**氣囊在溫濕度和振動復(fù)合環(huán)境下的適應(yīng)能力。實際工作過程中,**氣囊必須在通電狀態(tài)下才能發(fā)揮作用,因此如上圖表所示,檢測標準中均規(guī)定需“模擬工作狀態(tài)加載脈沖電流”。冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上,用于修復(fù)部分此類問題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控制器。CPU仍然是主要的處理器件,附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見于成本敏感性產(chǎn)品中,但也在低級任務(wù)中用作小型協(xié)處理器,以減輕主處理器的負擔,從而提升效率。另一方面FPGA也正在朝著類似的目標前進,雖然是從另一個方向。賽靈思和Altera多年來一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上系統(tǒng)。冷鏡式露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 5年保修


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