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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)
青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

EMI測試技術(shù)目前診斷差模共模干擾的三種方法:射頻電流、差模網(wǎng)絡(luò)、噪聲分離網(wǎng)絡(luò)。用射頻電流是測量差模共模干擾簡單的方法,但測量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)限值比較要經(jīng)過較復(fù)雜的換算。差模網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)比較簡單,測量結(jié)果可直接與標(biāo)準(zhǔn)限值比較,但只能測量共模干擾。噪聲分離網(wǎng)絡(luò)是的方法,但其關(guān)鍵部件變壓器的制造要求很高。目前干擾的幾種措施形成電磁干擾的三要素是干擾源、傳播途徑和受擾設(shè)備。因而,電磁干擾也應(yīng)該從這三方面著手。青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。終,一個(gè)為多家汽車廠商提供子部件的廠家就有可能必須根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn),采用不同的方法,在同一個(gè)頻率范圍內(nèi)測試同樣的部件。為了滿足客戶的測試需求,部件廠商可以采用一系列針對(duì)ISO11452和SAEJ1113中包含的RF測試規(guī)范而設(shè)計(jì)的汽車部件測試系統(tǒng)來幫助完成工作。這些測試系統(tǒng)通常都是自含(self-contained)系統(tǒng),遵循所有標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的級(jí)別測試規(guī)范。采用這樣的系統(tǒng)之后,部件廠商在對(duì)多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試時(shí),用到的許多測試儀器都是相同的,因而能節(jié)省大量資金。青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

有必要采用一些其他方法來提高傳導(dǎo)EMI的性能。本文主要討論的是引入輸入濾波器來濾除噪聲,或增加罩來鎖住噪聲。EMI濾波器示意簡圖是一個(gè)簡化的EMI濾波器,包括共模(CM)濾波器和差模(DM)濾波器。通常,DM濾波器主要用于濾除小于30MHz的噪聲(DM噪聲),CM濾波器主要用于濾除30MHz至100MHz的噪聲(CM噪聲)。但其實(shí)這兩個(gè)濾波器對(duì)于整個(gè)頻段的EMI噪聲都有一定的作用。顯示了一個(gè)不帶濾波器的輸入引線噪聲,包括正向噪聲和負(fù)向噪聲,并標(biāo)注了這些噪聲的峰值水平和平均水平。青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。CSP(ChipScalePACkage):芯片級(jí)封裝,該方式相比BGA同等空間下可以將存儲(chǔ)容量提升三倍,是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage):雙列直插式封裝,插裝型封裝之一,指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片,體積比較大。MCM(MultiChipModel):多芯片模塊封裝,可根據(jù)基板材料分為MCM-L,MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage):四側(cè)引腳扁平封裝,表面貼裝型封裝之一,引腳通常在100以上,適合高頻應(yīng)用,基材方面有陶瓷、金屬和塑料三種。青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 往往這要求設(shè)計(jì)人員使用外部硬件或是通過位拆裂在固件中實(shí)現(xiàn)接口。位拆裂使用固件觸發(fā)IO端口,一般可用于實(shí)現(xiàn)串行接口。如果要監(jiān)測端口以串行數(shù)據(jù)的時(shí)候,也可以使用這種方法。無論是使用外部硬件還是位拆裂來實(shí)現(xiàn)接口,都會(huì)產(chǎn)生額外的設(shè)計(jì)成本。雖然增加外部硬件帶來的成本是明顯的,但使用軟件實(shí)現(xiàn)串行接口可能也會(huì)要求使用速度更快因而也更加昂貴的CPU。大多數(shù)通用微控制器今天都支持SPUART和I2C接口,但仍然有很多時(shí)候,某些內(nèi)部用戶可編程邏輯會(huì)非常有用。青島華能供應(yīng) HN2016 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗(yàn)


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