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HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質量
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露點 |
測量范圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測量時間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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一到夏季，工程師們總會為電機過熱而煩惱。但大家都知道衡量電機發(fā)熱程度是用“溫升”而不是用“溫度”。電機測試中涉及到溫度的測試主要時溫升測試及環(huán)境溫度測試，本文主要介紹兩者的區(qū)別和聯系。電機溫升測試電機由常溫（其各部分溫度與環(huán)境溫度相同）開始運行，溫度不斷升高，當其高出環(huán)境溫度后，一方面繼續(xù)吸收熱量緩慢升溫。另一方面開始向周圍散發(fā)熱量。當電機處于熱量平衡裝態(tài)，溫度不再升高時，電機的溫度與環(huán)境溫度之差稱之為電機溫升。
1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
后將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請關機充電后繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調節(jié)流量，把流量調節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5～10分鐘，其后每臺設備需要3～5分鐘。
4、存儲數據
設備測量完成后，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內容。對TBC試件進行早期無損檢測具有重大意義。實驗原理根據Grzegorz采用盲孔缺陷代替脫粘缺陷進行的方法，在對TBC脫粘缺陷的檢測實驗中，通常在TBC試件的金屬基底上制作盲孔缺陷來模擬真實的脫粘缺陷。本文的線激光掃描熱成像方法分為粗掃描階段和細掃描階段。在粗掃描階段的檢測原理中，LLFST系統能夠在TBC試件表面匯聚出激光點，控制激光點以直線方向高速移動。當掃描速度足夠快且做線狀移動時，激光點可以看作是線激光。
5、測量其他設備
一臺設備測量后，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節(jié)閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備，按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。
6、測量結束
所有設備測量結束后，關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。
傳統的解決方案是加TVS管，但它有比較大的體積和相對高的重量等缺點。那么ADI是怎么解決的呢?Lorry解答到：“我們考慮SurgeStopper，通過反饋和MOSFET控制把瞬間脈沖的干擾電源尖峰部分消掉，確保輸出電壓在我們設定的標準范圍之內，車身系統系統會更加**。再結合可控的電源工藝，車身系統就不會因為意外的干擾造成組件損壞?！保嚎商娲鶷VS和絲的浪涌器方案。激光雷達、普通雷達、相關測量測控單元是未來自動駕駛非常核心和關鍵的平臺。
1、保存數據
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁面，保存數據時，可以根據設備進行編號。
設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。
輸入編號后，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。
2、查看記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁面。
顯示時從后一個被保存的數據開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數據。多語言選項意味著您可與世界各地使用其語言的同事交流熱數據和結果。借助在數據文件中保存和共享工作區(qū)的功能，相關同事能以完全相同的方式查看記錄數據，提率并減少因翻譯不當造成結果解讀錯誤的可能。具體優(yōu)勢如下，為你詳解~1.簡化的用戶界面直觀的控制設計允許各層次的用戶快速獲取和熱數據。即插即用連接多臺熱像儀，即時；使用簡單的“連接-記錄-”工作流程，地開展數據獲取和工作；支持操作系統：Windows、MacOs、Linux；種語言版本可選。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。
4、修改時間
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁面。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。
輸入小時、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。
在本文中，我們將回顧以前發(fā)布的技術，這些技術通過偏移LO頻率并以數字方式補償此偏移，強制雜散信號去相關。已知雜散去相關方法在相控陣中，用于強制雜散去相關的方法問世已有些時日。已知的份文獻1可以追溯到2002年，該文描述了用于確保接收器雜散不相關的一種通用方法。在這種方法中，先以已知方式，修改從接收器到接收器的信號。然后，接收器的非線性分量使信號失真。在接收器輸出端，將剛才在接收器中引入的修改反轉。