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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6純度分析儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。sf6純度分析儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗
sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗

露點

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

由于采用了現(xiàn)代測控手段,這些設備可以做得相當精密,卻因設備復雜,昂貴,運作費時費工,主要作為標準計量之用,其測量精度可達±2%RH-±1.5%RH。靜態(tài)法中的飽和鹽法,是濕度測量中常見的方法,簡單易行。但飽和鹽法對液、氣兩相的平衡要求很嚴,對環(huán)境溫度的穩(wěn)定要求較高。用起來要求等很長時間去平衡,低濕點要求更長。特別在室內(nèi)濕度和瓶內(nèi)濕度差值較大時,每次開啟都需要平衡6~8小時。露點法是測量濕空氣達到飽和時的溫度,是熱力學的直接結(jié)果,準確度高,測量范圍寬。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗1、連接SF6設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好,用扳手擰緊,關閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好,用扳手擰緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。

設備測量時間需要510分鐘,其后每臺設備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。測試時,探針壓在PCB表面的待測點,然后通電測試每個網(wǎng)點的通斷,并報告存在的短路和斷路缺陷。其局限在于只能檢測短路和斷路兩種缺陷,缺口、針孔和殘留銅等其它缺陷都無法檢測。針床夾具的成本過高,小批量生產(chǎn)不合適;但是隨著電子組裝向更高密度、更小尺寸、更復雜的PCB混合技術的縱深發(fā)展,僅依靠人眼檢測或電測試印制電路板的質(zhì)量無法滿足品質(zhì)要求。為提高產(chǎn)品質(zhì)量,減少進入下步工序的有缺陷電路板的數(shù)量,對PCB檢測中的關鍵設備----自動光學檢測(AOI)系統(tǒng)的需求也越來越大。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗

5、測量其他設備

一臺設備測量后,關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。

6、測量結(jié)束

所有設備測量結(jié)束后,關閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1

在電子技術應用領域,經(jīng)常要對開關電源、線性電源、UPS電源、變壓器、整流器、電池、充電器等電子設備進行測試,傳統(tǒng)的測試方法中一般都采用電阻、滑動變阻器、電阻箱等充當測試負載,但這些負載不能滿足我們對負載多樣性的需求,如:恒定電流的負載,隨意調(diào)節(jié)阻值的負載,恒定功率的負載,動態(tài)負載等,可編程電子負載才被設計開發(fā)出來。根據(jù)負載所接電流類別,電子負載可以分為兩大類:直流電子負載和交流電子負載。本文主要討論直流電子負載。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設備進行編號。

設備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。低功耗、高速度、高集成度的LSI電路是成多電子產(chǎn)品的要考慮,這也就導致裝置比以往任何時候更容易受到電磁干擾的威脅。此外,大功率家電及辦公自動化設備的增多,以及移動通信、無線網(wǎng)絡的廣泛應用等,又大大增加了電磁擾源。這些變化迫使人們把電磁兼容作為重要的技術問題加以關注。電磁兼容采用一定的技術手段,使同一電磁環(huán)境中的電子、電氣設備都能正常工作,并且不干擾其他設備的正常工作,這就是電磁兼容(ElectromagneticCompatibility,縮寫為EMC)。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 但通過熱像儀,我們可以準確看到佛像左小手臂下方有明顯的裂縫存在。這其中的原理是,裂縫中存在空氣對流的情況,導致裂紋處的表面溫度與佛像本體的溫度存在溫差。熱像儀將溫度場分布通過圖像的形式來表達,所以在紅外圖中可以直觀看到,但在可見光中無法看到該裂縫。受潮檢測佛像底座受潮檢測,針對霉變隱患處進行防霉除霉處理。由于佛像依山開鑿,山體中的毛細水沿著山勢經(jīng)年累月緩慢地浸入佛像底座。佛像中濕度大的區(qū)域與干燥的區(qū)域,存在細微溫差。sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗


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