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HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
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露點(diǎn) |
測(cè)量范圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測(cè)量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測(cè)量時(shí)間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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另外，LM71-Q1可以監(jiān)測(cè)TCU模塊的總體溫度，當(dāng)溫度處于-40°C和+150°C之間時(shí)，測(cè)量精度可達(dá)+3/-2°C。如前所述，TCU采用來自變速箱的溫度數(shù)據(jù)，作為其決策過程的一部分。LMT01-Q1是采用雙引腳引線封裝的一種易用型數(shù)字溫度傳感器，您可以把它安裝在變速箱上。將導(dǎo)線與LMT01-Q1封裝的引線壓接在一起，即可把這些導(dǎo)線連接至TCU電路板。LMT01-Q1通過發(fā)送脈沖來傳輸溫度數(shù)據(jù)，MCU/處理器會(huì)為脈沖計(jì)數(shù)。
1、連接SF6設(shè)備
將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；
再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。
3、開始測(cè)量
打開儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。
設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。
4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。當(dāng)兩個(gè)重載輸出時(shí)，電流在整個(gè)1-D周期持續(xù)流動(dòng)，輸出電壓平衡良好。然而，當(dāng)一個(gè)重載輸出和另一個(gè)輕載輸出時(shí)，輕載輸出上的輸出電容傾向于從該基座電壓發(fā)生峰值充電；因?yàn)殡娏餮杆倩厣搅?，其輸出二極管將停止導(dǎo)通，。請(qǐng)參見中的波形。這些寄生電感的峰值充電交叉調(diào)節(jié)影響通常比整流器正向壓降單引起的要差得多。當(dāng)對(duì)兩個(gè)輸出施加重載時(shí)，在整個(gè)1-D周期內(nèi)，次級(jí)繞組電流在兩個(gè)次級(jí)繞組中流動(dòng)。您可以看到上方紅色跡線上的基座電壓。
5、測(cè)量其他設(shè)備
一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。
6、測(cè)量結(jié)束
所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測(cè)量狀態(tài)，通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。
當(dāng)用一種材料校正儀器后(常用試塊為鋼)又去測(cè)量另一種材料時(shí)，將產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié)果。溫度的影響。一般固體材料中的聲速隨其溫度升高而降低，有試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明，熱態(tài)材料每增加100℃，聲速下降1%。對(duì)于高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。耦合劑的影響。耦合劑是用來排除和被測(cè)物體之間的空氣，使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測(cè)目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng)，將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍，無法測(cè)量。實(shí)際使用中由于耦合劑使用過多，造成離開工件時(shí)，儀器示值為耦合劑層厚度值。
1、保存數(shù)據(jù)
在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。
設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁面。
顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。時(shí)間交錯(cuò)技術(shù)可使用多個(gè)相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用于DAC的時(shí)間交錯(cuò)特性），并以比每一個(gè)單數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡(jiǎn)單說來，時(shí)間交錯(cuò)（IL）由時(shí)間多路復(fù)用M個(gè)相同的ADC并聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的凈采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個(gè)ADC實(shí)際上以較低的速率進(jìn)行采樣（和轉(zhuǎn)換），即fs/M。舉例而言，通過交錯(cuò)四個(gè)10位/100MSPSADC，理論上可以實(shí)現(xiàn)10位/400MSPSADC。
3、刪除記錄
在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時(shí)間
在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁面。
通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。
輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。
當(dāng)外界熱激勵(lì)時(shí)，缺陷的存在會(huì)影響熱傳導(dǎo)，導(dǎo)致表面溫度分布異?；虮砻鏈囟入S時(shí)間的變化異常。采用紅外熱像儀測(cè)量被檢復(fù)合材料構(gòu)件表面溫度變化，通過一定的信號(hào)處理，甚至借助于參塊，獲得其表面或內(nèi)部缺陷的特征（包括缺陷的位置、大小及性質(zhì)等）。一般來說，缺陷越大，越靠近被檢表面，與基體材料的熱性質(zhì)差別越大，越容易被檢測(cè)出來。1應(yīng)用特點(diǎn)紅外熱像檢測(cè)是無損檢測(cè)方法之一，具有直觀、快速、無污染、一次檢測(cè)面積大等優(yōu)點(diǎn)，適用于復(fù)合材料構(gòu)件的現(xiàn)場(chǎng)、快速檢測(cè)，如器結(jié)構(gòu)的原位檢測(cè)。