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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

現(xiàn)在對(duì)線、棒材產(chǎn)品質(zhì)量的要求正在持續(xù)增長(zhǎng),這種要求不僅包括對(duì)表面質(zhì)量和機(jī)械性能的要求,而且在很大程度上,包括對(duì)尺寸公差的要求,尤其對(duì)橢圓度的要求。軋制產(chǎn)品高精度的尺寸公差對(duì)顧客來(lái)說(shuō)是相當(dāng)重要的他們?cè)试S的機(jī)加工公差,這樣可節(jié)約材料和降低機(jī)械加工成本,這是對(duì)現(xiàn)代自動(dòng)成型機(jī)械中使用這些軋材的主要考慮。棒、線材產(chǎn)品精度高的公差使省去后續(xù)的某些機(jī)械加工步驟成為可能。線材測(cè)徑儀的小公差檢測(cè)恰恰滿足這一特點(diǎn),它的0.02mm的測(cè)量精度滿足現(xiàn)在的公差精度要求,對(duì)鋼材高質(zhì)量生產(chǎn)具有重要的意義。sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。B,速度。為了達(dá)到一定產(chǎn)量,完成生產(chǎn)任務(wù),速度是考慮測(cè)試方案時(shí)重要的要素之一。C,成本。任何時(shí)候,成本都是一個(gè)企業(yè)的一條重要生命線。在遙控器測(cè)試的技術(shù)要求中,中心頻率、發(fā)射功率為核心數(shù)據(jù),是基本上所有種類的遙控器都需要測(cè)試的項(xiàng)目,而頻譜圖和功能性測(cè)試在生產(chǎn)中一般二選一。測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)備份功能則通常是對(duì)品質(zhì)要求較高和代工型企業(yè)所需求的。圖二:某玩具遙控器測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)在保證品質(zhì)的情況下盡可能的提高測(cè)試速度是所有企業(yè)的共同需求,在這里可以通過(guò)兩方面的手段來(lái)加快測(cè)試速度,提高生產(chǎn)效率:A,提高儀器本身的測(cè)試速度和便捷性。sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

結(jié)構(gòu)與等效電路本文提出的新型CMRC平面結(jié)構(gòu)如所示,其LC等效電路模型如所示。介質(zhì)基板采用TaconicCER_1,其介電常數(shù)er=9.5,厚度.64mm。圖CMRC的平面結(jié)構(gòu)圖LC等效電路模型濾波器特性仿真主要結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)傳輸特性的影響我們對(duì)所示CMRC結(jié)構(gòu)應(yīng)用HFSS進(jìn)行建模以及仿真,并了主要結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)濾波器傳輸特性的影響。在仿真中我們發(fā)現(xiàn)xy1以及y2對(duì)濾波器傳輸特性的影響較大,其影響特性曲線如至所示,由和可知減小x1和y1可以降低諧振頻率,從而相應(yīng)的可以減小低通頻率范圍,這是因?yàn)樵诘刃щ娐纺P椭校瑴p小x1或y1都可以提高單位長(zhǎng)度的分布串聯(lián)電感(L和L1)。sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。本文說(shuō)明了一種通用的集成電路RF噪聲測(cè)量技術(shù)。RF抗干擾能力測(cè)試將電路板置于可控制的RF信號(hào)電平下,RF電平代表電路工作時(shí)可能受到的干擾強(qiáng)度。從而產(chǎn)生了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化、結(jié)構(gòu)化的測(cè)試方法,使用這種方法能夠得到在質(zhì)量中可重復(fù)的測(cè)試結(jié)果。這樣的測(cè)試結(jié)果有助于IC選型,從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路??梢詫⒈粶y(cè)器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩,以測(cè)試其RF敏感度。為了得到一個(gè)的、具有可重復(fù)性的測(cè)試結(jié)果,需要采用一種固定的測(cè)量方法,在可重復(fù)的RF場(chǎng)內(nèi)測(cè)試DUT。sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 紋波是電源的核心指標(biāo),但如何準(zhǔn)確測(cè)量紋波確實(shí)一個(gè)被廣泛忽略的問(wèn)題。也許您認(rèn)為不就是示波器交流耦合,然后把點(diǎn)在電源上嘛?事實(shí)遠(yuǎn)非如此,本文為您呈現(xiàn)紋波測(cè)試的正確方式。的選擇在十幾年前,很多公司的電源測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中都有明確的規(guī)定,要求使用1:1進(jìn)行測(cè)量。因?yàn)檫@種不會(huì)損失示波器的測(cè)量檔位,比如示波器原來(lái)檔位是2mv/div,使用1:1就仍然可以通過(guò)這個(gè)檔位測(cè)量紋波,即可以準(zhǔn)確測(cè)量出10mv以內(nèi)的紋波。sf6微水測(cè)試儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量


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