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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

三相電壓不平衡GJB181A-23中規(guī)定需要模擬在三相供電不平衡狀態(tài)下用電設(shè)備的運(yùn)行特性。IT76系列支持單三相輸出,可實(shí)現(xiàn)對(duì)于三相交流電源的測(cè)試應(yīng)用。用戶可以根據(jù)實(shí)際需求實(shí)現(xiàn)Y型和型的連接方式。在實(shí)現(xiàn)三相輸出的同時(shí),可模擬三相不平衡,擴(kuò)展應(yīng)用范圍。交流諧波畸變模擬GJB181A-23中規(guī)定需要模擬在三相供電不平衡狀態(tài)下用電設(shè)備的運(yùn)行特性。IT76系列擁有強(qiáng)大的諧波模擬能力,可達(dá)5次諧波。冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。如何發(fā)現(xiàn)泄漏不幸的是,主流的泄漏檢測(cè)方法非常原始。一種古老的方法是聽嘶嘶聲,這在許多環(huán)境下幾乎是不可能聽到的;以及在疑似泄漏區(qū)域噴灑肥皂水,這種方導(dǎo)致現(xiàn)場(chǎng)混亂,容易導(dǎo)致人員滑倒。當(dāng)前,查找壓縮機(jī)泄漏的工具是超聲波探測(cè)器——一種便攜式裝置,能夠識(shí)別與空氣泄漏相關(guān)的高頻聲音。普通的超聲探測(cè)器有助于發(fā)現(xiàn)泄漏,但其使用非常耗費(fèi)時(shí)間,維修人員通常只能在規(guī)劃的停工時(shí)間使用,而該時(shí)間本來可用于維護(hù)其他關(guān)鍵機(jī)器。冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

熱力學(xué)中常犯的一個(gè)錯(cuò)誤就是選擇和線性穩(wěn)壓器一樣簡易的裝置。當(dāng)設(shè)計(jì)即將應(yīng)用時(shí),設(shè)計(jì)師通常會(huì)意識(shí)到這個(gè)錯(cuò)誤。更糟的是,由于新型線性穩(wěn)壓器的新功能和規(guī)格,封裝中消散的功率很容易被忽視。這讓穩(wěn)壓器的運(yùn)行溫度會(huì)超過其額定溫度,在實(shí)際使用中會(huì)引發(fā)故障。線性穩(wěn)壓器基本上由一個(gè)旁路元件和一個(gè)控制器組成。該元件是一個(gè)晶體管,可以在控制回路的幫助下成為可變電阻器,從而在旁路元件和負(fù)荷之間形成一個(gè)分壓器。線性穩(wěn)壓器框圖注意,旁路元件將在其自身和負(fù)荷之間形成一個(gè)分壓器,起到耗散功率的作用。冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。有沒有一個(gè)曝光時(shí)間能夠**涵蓋一個(gè)場(chǎng)景的溫度變化,并測(cè)量該場(chǎng)景的所有冷熱物體?沒有,但有另一個(gè)選項(xiàng)。解決方案:FLIR超幀技術(shù)FLIR超幀技術(shù)指的是,在一個(gè)快速的連續(xù)時(shí)間內(nèi),以逐漸加快的曝光時(shí)間拍攝一組4幅具有代表性的場(chǎng)景圖像(子幀),然后重復(fù)這個(gè)循環(huán)。每次循環(huán)的子幀被合并為一個(gè)超幀,如我們所知,這個(gè)超幀結(jié)合了曝光時(shí)間不同的4個(gè)子幀的特性。這一過程稱為疊加。采用這種方式,疊加算法生成的超幀圖像對(duì)比度高,溫度范圍廣。冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 有源RF和FEM的個(gè)關(guān)鍵屬性是諧波行為。諧波行為由非線件引起,會(huì)導(dǎo)致在比發(fā)射頻率高數(shù)倍的頻率下產(chǎn)生輸出功率。由于許多無線標(biāo)準(zhǔn)對(duì)帶外輻射進(jìn)行了嚴(yán)格的規(guī)定,所以工程師會(huì)通過測(cè)量諧波來評(píng)估RF或FEM是否違反了這些輻射要求。測(cè)量諧波功率的具體方法通常取決于RF的預(yù)期用途。對(duì)于通用RF等器件備來說,諧波測(cè)量需要使用連續(xù)波信號(hào)來激勵(lì)DUT,并測(cè)量所生成的不同頻率的諧波的功率。相反,在測(cè)試無線或RF時(shí),諧波測(cè)量一般需要調(diào)制激勵(lì)信號(hào)。冷鏡式露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量


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