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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

兩線變送器的電源連接在變送器的輸出端。兩線變送器調(diào)制電源的電流從4?20mA,和輸入端成比例。兩線變送器的供電電源一般從24V~96V。大的電源可以使輸出端的環(huán)路負(fù)載能力加大很多。過(guò)程校驗(yàn)儀現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)環(huán)路電源隔離器Fluke787過(guò)程校驗(yàn)儀具有特的電流模擬功能。當(dāng)連接至外部電源時(shí),可以在0?24mA之間地控制電流?,F(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)環(huán)路電源隔離器時(shí),兩線環(huán)路變送器向隔離器提供的電流信號(hào)可以被移去,而F787過(guò)程校驗(yàn)儀可以用模擬方式控制環(huán)路電流。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。此類紅外熱像儀不需要制冷,且成本比量子探測(cè)器紅外熱像儀低。制冷型量子探測(cè)器采用銻化銦(InSb)、銦鎵砷(InGaAs)或應(yīng)變超晶格制成。這類探測(cè)器為光電探測(cè)器,即光子撞擊像素點(diǎn),轉(zhuǎn)化為可存儲(chǔ)于積分電容器的電子。像素采用的電子快門,通過(guò)斷開或短路積分電容器來(lái)控制快門。量子探測(cè)器在本質(zhì)上比微測(cè)輻射熱計(jì)的速度要快,主要原因是微測(cè)輻射熱計(jì)必須要改變溫度。與改變像素溫度相反的是,量子探測(cè)器是將能量加到半導(dǎo)體中的電子里,提至高于進(jìn)入導(dǎo)電帶的探測(cè)器能量帶隙,根據(jù)探測(cè)器的不同設(shè)計(jì),可以測(cè)量為探測(cè)器電壓或電流的變化。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

ENOB=(SINAD-1.76dB)/6.2,其中1.76為理想ADC的量化噪聲,6.2為將log2轉(zhuǎn)化為log1的系數(shù)比。很明顯,SINAD越大,ENOB越大,而提升SINAD的方法就是重點(diǎn)關(guān)注與測(cè)試精度有關(guān)的電路。在數(shù)字示波器的架構(gòu)中,與測(cè)試精度有關(guān)的電路有:前端采集電路、ADC采樣電路。被測(cè)信號(hào)經(jīng)前端采集電路進(jìn)行調(diào)理后傳輸給ADC進(jìn)行采樣。其中前端采集電路及ADC采樣電路對(duì)ENOB有較大影響,實(shí)際工作時(shí),偏置誤差,非線性誤差,增益誤差,隨機(jī)噪聲,甚至還有ADC交織引起的噪聲都會(huì)增大ENOB。ENOB說(shuō)明了什么ENOB是衡量ADC性能的標(biāo)尺,若示波器ENOB指標(biāo)好,那么偏置誤差、增益誤差、非線性度等都較小,同時(shí)帶寬噪聲也較低。如果主要被測(cè)信號(hào)是正弦波信號(hào),那么ENOB就需要重點(diǎn)關(guān)注。通常示波器都由前端電路衰減器、放大器等信號(hào)調(diào)理電路、ADC采樣電路組成,在設(shè)計(jì)的時(shí)候,會(huì)在前端采用射頻技術(shù),頻率響應(yīng)方式,實(shí)現(xiàn)的頻響平坦度,以便ADC采樣時(shí)失真,增大ENOB指標(biāo)。如何判斷ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直檔位及偏置下的底噪大小是評(píng)估示波器測(cè)量質(zhì)量的一個(gè)重要依據(jù),通過(guò)觀測(cè)底噪大小,可以判斷前端采集電路和ADC采樣電路設(shè)計(jì)的優(yōu)劣,因?yàn)槭静ㄆ鞯牡自霑?huì)增加額外的抖動(dòng)并較小設(shè)計(jì)裕量,對(duì)測(cè)試結(jié)果造成較大的影響。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。什么是轉(zhuǎn)矩波動(dòng)?它對(duì)電機(jī)運(yùn)行有什么影響?如果有,影響有多大?它對(duì)我們生產(chǎn)生活有什么意義?我們又該如何測(cè)試轉(zhuǎn)矩波動(dòng)呢?接下來(lái)就讓我們具體了解一下轉(zhuǎn)矩波動(dòng)。什么是轉(zhuǎn)矩波動(dòng)轉(zhuǎn)矩波動(dòng)是工作機(jī)械傳動(dòng)軸的時(shí)候出現(xiàn)扭矩的波動(dòng),與動(dòng)力機(jī)械的工作能力、能源消耗、效率、運(yùn)轉(zhuǎn)壽命及**性能等因素緊密聯(lián)系,轉(zhuǎn)矩的測(cè)量對(duì)傳動(dòng)軸載荷的確定與控制、傳動(dòng)系統(tǒng)工作零件的強(qiáng)度設(shè)計(jì)以及原動(dòng)機(jī)容量的選擇等都具有重要的意義。通俗地講就是電機(jī)由于機(jī)械結(jié)構(gòu)和本身轉(zhuǎn)子慣量輸出一定轉(zhuǎn)矩的上下波動(dòng)。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 同時(shí)整個(gè)過(guò)程中CPU過(guò)多參與,大量消耗CPU性能,影響正常的數(shù)據(jù)計(jì)算。在RDMA模式下,應(yīng)用數(shù)據(jù)可以繞過(guò)Kernel協(xié)議棧直接向網(wǎng)卡寫數(shù)據(jù),帶來(lái)的顯著好處有:處理延時(shí)由數(shù)十微秒降低到1微秒內(nèi);整個(gè)過(guò)程幾乎不需要CPU參與,節(jié)省性能;傳輸帶寬更高。RDMA對(duì)于網(wǎng)絡(luò)的訴求RDMA在高性能計(jì)算、大數(shù)據(jù)、IO高并發(fā)等場(chǎng)景中應(yīng)用越來(lái)越廣泛。諸如iSICI,SAN,Ceph,MPI,Hadoop,Spark,Tensorflow等應(yīng)用軟件都開始部署RDMA技術(shù)。sf6露點(diǎn)儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量


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