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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量
sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量

露點

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

傳統(tǒng)的微功率電源模塊采用自激推挽拓?fù)涞碾娐?,效率、容性?fù)載、啟動能力等各項性能之間的相互制約,如表1所示:啟動能力與容性負(fù)載能力相互加強(qiáng)作用,而與電源轉(zhuǎn)換效率是相互制約的,啟動能力強(qiáng)則電源轉(zhuǎn)換效率低。難以均衡、難以采用常規(guī)技術(shù)突破,導(dǎo)致成本高、性價比低;同時該拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)電路是無異常工況保護(hù)功能,在電路出現(xiàn)異常工作狀態(tài)時,會導(dǎo)致電源模塊損壞,甚至導(dǎo)致災(zāi)難性的后果,而且行業(yè)內(nèi)的微功率電源模塊有如下三道難題:表1各性能相互制約表難題一:輸出短路保護(hù)與輸出特性市面上支持短路保護(hù)的電源主要采用兩種方案,但均存在較大的缺陷:行業(yè)內(nèi)比較常用的方法是利用變壓器繞組分離的技術(shù)實現(xiàn)長期輸出短路保護(hù)功能,但采用這種方式帶來的后果是大大減低了產(chǎn)品的轉(zhuǎn)換效率、紋波噪聲較大并且提高了成本;采用自主磁芯技術(shù)實現(xiàn)可持續(xù)短路保護(hù),但為避免短路時,后端重載會導(dǎo)致模塊損壞,因此輸出容性負(fù)載能力差。sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。

設(shè)備測量時間需要510分鐘,其后每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。動態(tài)數(shù)字I/O—GX5296,每引腳PMU功能,可以快速實現(xiàn)開短路以及DC測試;Hz的數(shù)據(jù)速率有助于實現(xiàn)AC測試,結(jié)合GtDIO6xEasy軟件,可以實現(xiàn)pattern文件的編寫以及導(dǎo)入,用于驗證基本的功能性測試。靜態(tài)數(shù)字I/O——GX5733可以很好的實現(xiàn)切換功能以及環(huán)境變量控制;升級版ATE可以擴(kuò)展為256個動態(tài)數(shù)字信道,128個靜態(tài)數(shù)字信道,的豐富了系統(tǒng)資源,有助于更大規(guī)模的量產(chǎn)測試。sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

當(dāng)選取的諧振回路器件滿足振蕩器起振條件時振蕩器開始工作,VCO內(nèi)的有源器件等效構(gòu)成的負(fù)電阻部分所提供的能量能夠滿足諧振回路所消耗的能量則振蕩電路的振蕩條件能夠得以維持,VCO能夠正常工作。然而,VCO實際的工作狀態(tài)絕非理想狀態(tài),并不是設(shè)計時所假定的終端連接理想的50歐姆負(fù)載,因此其終端負(fù)載條件的變化會導(dǎo)致VCO出現(xiàn)輸出振蕩頻率發(fā)生變化的非線性現(xiàn)象,這就是頻率牽引,其表征參數(shù)為頻率牽引系數(shù)。從可以看出,從VCO輸出看去的阻抗變化會引起VCO的有源器件結(jié)上直流電壓的變化,也就是說,VCO輸出反射回來的信號功率能引起晶體管漏電流和偏置點的波動,導(dǎo)致該雙極型晶體管集電極與基極之間的電壓(Vcb)發(fā)生變化,影響集電極與基極之間的電容(Ccb),從而通過影響整個回路的諧振狀態(tài)和條件導(dǎo)致振蕩頻率和相位噪聲的改變。sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。關(guān)于MOSFET很多人都不甚理解,這次小編再帶大家仔細(xì)梳理一下,也許對于您的知識系統(tǒng)更加。下面是對MOSFET及MOSFET驅(qū)動電路基礎(chǔ)的一點總結(jié),其中參考了一些資料。在使用MOS管設(shè)計開關(guān)電源或者馬達(dá)驅(qū)動電路的時候,大部分人都會考慮MOS的導(dǎo)通電阻,電壓等,電流等,也有很多人僅僅考慮這些因素。這樣的電路也許是可以工作的,但并不是的,作為正式的產(chǎn)品設(shè)計也是不允許的。sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 RaytekMMMT測溫儀可以很巧妙地避免上述問題的發(fā)生。它的優(yōu)勢集中在以下三個方面:選擇正確波長的儀器是在RaytekMMMT應(yīng)用成功的關(guān)鍵。波長短原則可能不適用。如果火焰比較臟,RaytekMMMT傳感器將取得比較好的測溫效果。如果使用一個波長較短的設(shè)備,火焰對測溫儀將有很大影響,產(chǎn)生一個較高的溫度。提供一個模擬輸出溫度,用戶可以在金屬在正確溫度時控制加熱的火焰。加熱周期可以被減少并減少過熱,產(chǎn)品溫度不合格情況是可以避免的。sf6微量水分測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 高質(zhì)量


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