HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置HNDL 直流大電流恒流源 容量大 5年保修
利用計(jì)算機(jī)控制技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計(jì)的一種大電流低電壓直生裝置，主要用于直流開(kāi)關(guān)的檢測(cè)試驗(yàn)，如直流開(kāi)關(guān)大電流脫扣定值的校驗(yàn)、分流器及隔離放大器特性測(cè)試、開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)間測(cè)試等，并自動(dòng)記錄測(cè)試的有關(guān)數(shù)據(jù)?；|(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜（MALDI-TOFMS）法，是一種快速、高通量、高準(zhǔn)確度鑒定微生物的技術(shù)，目前已經(jīng)被應(yīng)用于啤酒廠中，進(jìn)行質(zhì)量控制中啤酒微生物的鑒定。然而，MALDI-TOFMS法的適用性受到混合培養(yǎng)物相關(guān)問(wèn)題的阻礙，使得技術(shù)人員在鑒定之前需要耗費(fèi)很長(zhǎng)時(shí)間去做微生物選擇性培養(yǎng)。南澳大利亞大學(xué)未來(lái)工業(yè)研究所進(jìn)行了一項(xiàng)研究，提出了一種新型的低成本方法，將慣性微流體和螺旋微通道中二次流相結(jié)合，從啤酒微生物（短乳桿菌和啤酒片球菌）中高通量和地分離酵母（巴氏酵母和釀酒酵母），然后使用MALDI-TOFMS平臺(tái)進(jìn)行微生物物種鑒定。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置是專門設(shè)計(jì)用于對(duì)地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開(kāi)關(guān)及其隔離放大器、保護(hù)裝置進(jìn)行功能試驗(yàn)的設(shè)備，通過(guò)模擬輸出故障電流或過(guò)負(fù)荷電流，測(cè)試直流開(kāi)關(guān)的大電流脫扣特性或過(guò)熱跳閘特性及延時(shí)特性，測(cè)試隔離放大器特性和保護(hù)裝置特性。在工業(yè)機(jī)器人制造業(yè)不斷發(fā)展的同時(shí)，我國(guó)裝備制造業(yè)也在逐步轉(zhuǎn)型升級(jí)。近年來(lái)，在先進(jìn)技術(shù)進(jìn)步與市場(chǎng)需求多元化的雙重作用下，考慮用工業(yè)機(jī)器人代替人力勞動(dòng)的企業(yè)逐漸增多。而長(zhǎng)期以來(lái)，汽車制造行業(yè)作為工業(yè)機(jī)器人應(yīng)用的主要領(lǐng)域，受消費(fèi)者自動(dòng)化需求的提升，進(jìn)一步擴(kuò)大了工業(yè)機(jī)器人的應(yīng)用范圍。包括除焊接外的其他大部分領(lǐng)域，如汽車機(jī)床噴涂、打磨、物料搬運(yùn)碼垛、上下料與裝配等。在機(jī)床工具的組成部分當(dāng)中，金屬成形機(jī)床所處的位置即為重要。

特點(diǎn)：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置由嵌入式微機(jī)系統(tǒng)控制，輸出電流的波形、幅值可通過(guò)人機(jī)界面準(zhǔn)確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計(jì)算、顯示直流開(kāi)關(guān)的動(dòng)作時(shí)間，并能存儲(chǔ)、打印測(cè)量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗(yàn)裝置標(biāo)準(zhǔn)波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時(shí)間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準(zhǔn)確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差只有2%。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

測(cè)量及計(jì)時(shí)精度高：輸出電流、開(kāi)關(guān)接點(diǎn)動(dòng)作狀態(tài)通過(guò)測(cè)量回路測(cè)量并以圖形方式在顯示器上顯示，準(zhǔn)確計(jì)算有關(guān)參數(shù)，電流測(cè)量精度為2%，時(shí)間測(cè)量精度為1mS

保護(hù)電路完善：HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置有完善的保護(hù)電路,如過(guò)流速斷保護(hù)、過(guò)流超時(shí)保護(hù)等。

接線方便：HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置通過(guò)隨裝置提供的電纜與被試開(kāi)關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計(jì)：HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置采用模塊化設(shè)計(jì)，特別是2號(hào)柜的降壓整流輸出單元，每一個(gè)模塊的輸出電流為5000A，方便維護(hù)和使用。根據(jù)用戶需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）可以利用觸發(fā)來(lái)進(jìn)一步隔離信號(hào)。這款模塊化示波器通過(guò)提供業(yè)界的波形更新速率（高達(dá)每秒1,000,000個(gè)波形）消除了這些限制，從而可捕獲更多的信號(hào)細(xì)節(jié)。這些示波器允許用戶使用區(qū)域觸發(fā)（zonetriggering），根據(jù)屏幕上顯示的信號(hào)信息來(lái)創(chuàng)建觸發(fā)。使用區(qū)域觸發(fā)時(shí)，如果您能夠在顯示屏上看到該事件，那么只需在屏幕上用鼠標(biāo)或手指（在觸摸屏上）繪制一個(gè)方框，然后選擇所需的觸發(fā)操作，就可以在遇到該事件時(shí)輕松觸發(fā)。