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HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流大電流發(fā)生器HNDL 交流溫升試驗裝置 容量大 定制定做
利用計算機(jī)控制技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置,主要用于直流開關(guān)的檢測試驗,如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等,并自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。HeliPod?紅外熱成像系統(tǒng)的高分辨率和高碼流能力能在植物品種之間檢測到較小的溫度差異,使其成為大規(guī)模實驗的功能強(qiáng)大的表型鑒定工具。成像農(nóng)業(yè)研究對于管候變化并確保食品供應(yīng)能夠跟上日益增長的需求至關(guān)重要?!澳壳埃覀兠磕晔褂眠@項技術(shù)篩選超過5萬個地塊,這項技術(shù)在研究領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的需求也在穩(wěn)步增長。如今我們的一些行業(yè)合作伙伴不會考慮在沒有部署此項功能的情況下進(jìn)行任何實驗?!薄皬拈L遠(yuǎn)來看,控制植物蒸騰速率的基因位點(diǎn)將被打破,這將使得新作物品種的開發(fā)更能適應(yīng)氣候變化。
應(yīng)用:
HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用于對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護(hù)裝置進(jìn)行功能試驗的設(shè)備,通過模擬輸出故障電流或過負(fù)荷電流,測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性,測試隔離放大器特性和保護(hù)裝置特性。其無線發(fā)射頻段工作在ISM頻段,常用的有315MHz和433.92MHz。發(fā)射信號的調(diào)制采用頻移鍵控(2FSK)或幅移鍵控(ASK)。對于胎壓監(jiān)測系統(tǒng)(TPMS)通常會進(jìn)行傳感器及無線通信信號質(zhì)量測試。無線通信信號測試分為監(jiān)測模塊的發(fā)射測試,包含發(fā)射功率,發(fā)射頻率及頻偏(對于2FSK)測試;及中控臺的接收端的接收靈敏度測試。對于發(fā)射測試,可以通過DSA700/800系列頻譜儀直接進(jìn)行發(fā)射功率及發(fā)射頻率測試。
特點(diǎn):
智能化及圖形顯示:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機(jī)系統(tǒng)控制,輸出電流的波形、幅值可通過人機(jī)界面準(zhǔn)確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示,可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間,并能存儲、打印測量結(jié)果。
多種輸出波形選擇:理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標(biāo)準(zhǔn)波形配置為常用的指數(shù)曲線,該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。
輸出準(zhǔn)確:按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出,綜合誤差只有2%。生命孕育的過程往往復(fù)雜而又狀況百出,雖說通過加強(qiáng)對準(zhǔn)媽媽的關(guān)照和護(hù)理能夠在一定程度上確保胎兒的健康和**,但仍然會有疏漏的地方。為此通常需要借助外部儀器對胎兒發(fā)育狀況進(jìn)行檢測,其中胎心作為早有的功能,能夠傳遞出與胎兒健康狀況相關(guān)的重要信息。在使用傳統(tǒng)聽診器進(jìn)行人工胎兒心率檢測時往往計數(shù)不準(zhǔn),而帶數(shù)字顯示功能的超聲波多普勒胎兒監(jiān)護(hù)儀又價格昂貴,僅方便使用,很難滿足日常需求。隨著傳感器技術(shù)應(yīng)用和發(fā)展,一種基于MEMS加速度傳感器的無創(chuàng)胎心檢測方法被提出來。
測量及計時精度高:輸出電流、開關(guān)接點(diǎn)動作狀態(tài)通過測量回路測量并以圖形方式在顯示器上顯示,準(zhǔn)確計算有關(guān)參數(shù),電流測量精度為2%,時間測量精度為1mS
保護(hù)電路完善:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護(hù)電路,如過流速斷保護(hù)、過流超時保護(hù)等。
接線方便:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連,注意不得隨意采用其它電纜。
模塊化設(shè)計:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計,特別是2號柜的降壓整流輸出單元,每一個模塊的輸出電流為5000A,方便維護(hù)和使用。根據(jù)用戶需要,可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置(HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA)了解你的被測試裝置被測試裝置(DUT)的性能會顯著影響射頻測量。,溫度會影響穩(wěn)定性,并因此與可重復(fù)性密切相關(guān)。許多射頻器件和射頻儀器沒有對溫度變化的內(nèi)部補(bǔ)償。它們必須在穩(wěn)定的溫度下工作以使溫度漂移引起的測量誤差。當(dāng)前的環(huán)境(,空調(diào)循環(huán)的開啟與關(guān)閉,覆蓋物和面板的移除或增加,處于戶外或室內(nèi),以及是否接近熱源)會有很大影響。需要注意適當(dāng)?shù)念A(yù)熱時間、被測試裝置的冷卻需求和周邊的環(huán)境以確保溫度穩(wěn)定性。