HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流開關(guān)脫口試驗裝置HNDL 開關(guān)柜溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
利用計算機控制技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用于直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，并自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。電控燃油噴射供給系統(tǒng)是由油箱、電動燃油泵、濾清器、燃油壓力調(diào)節(jié)器、燃油脈動減振器、噴油器、油管等組成。由于電控燃油噴射技術(shù)的發(fā)展，機械式（K）或機電式（KE）噴射已被電子燃油噴射系統(tǒng)（EFI）典型的供油系統(tǒng)所取代。目前在汽車上應(yīng)用的EFI系統(tǒng)可分為D型、L型和MONO型三大類。D型是通過檢測進氣歧管壓力（真空度），間接測量發(fā)動機吸入的空氣量來調(diào)節(jié)噴油量的EFI系統(tǒng)。由于汽車不同工況下發(fā)動機吸入的空氣量不同，氣流對進氣歧管的壓力波動，采用壓力傳感器很難準確地檢測進氣量。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用于對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。解決方案下面這篇文章主要介紹一下如何快速定性判斷場效應(yīng)管、三極管的好壞，希望對大家的學習有所幫助。定性判斷場效應(yīng)管的好壞先用萬用表R×10kΩ擋(內(nèi)置有15V電池)，把負表筆(黑)接柵極，正表筆(紅)接源極(S)。給柵、源極之間充電，此時萬用表指針有輕微偏轉(zhuǎn)。再改用萬用表R×1Ω擋，將負表筆接漏極，正筆接源極(S)，萬用表指示值若為幾歐姆，則說明場效應(yīng)管是好的。判斷結(jié)型場效應(yīng)管的電極將萬用表撥至R×100檔，紅表筆任意接一個腳管，黑表筆則接另一個腳管，使腳懸空。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機系統(tǒng)控制，輸出電流的波形、幅值可通過人機界面準確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，并能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差只有2%。全城交通流量感知深圳交警建立了道路動態(tài)監(jiān)控體系，通過車牌識別、油站車牌識別等系統(tǒng)，通過方式檢測交通流量，檢測準確率達到了95%。每月采集過車數(shù)據(jù)約7億條，同時整合內(nèi)、外部78個系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫近4TB的數(shù)據(jù)，有力支持交通大數(shù)據(jù)的擁堵和優(yōu)化方案。人工智能輔助現(xiàn)在，深圳交警大數(shù)據(jù)研判平臺實現(xiàn)了對卡口數(shù)據(jù)運算的秒級響應(yīng)，基于對車輛外觀特征識別的二次識別技術(shù)日處理圖片能力達到1萬張，對于違章圖片的識別達到95%以上。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量并以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特別是2號柜的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）簡介40多年來，數(shù)字功能測試一直是測試領(lǐng)域的一部分。早的測試系統(tǒng)采用簡單的靜態(tài)數(shù)字測試功能。然而，隨著這些數(shù)字設(shè)備，模塊和系統(tǒng)的性能、復雜性的發(fā)展，數(shù)字測試儀器也在不斷發(fā)展。特別是，器件切換速率相關(guān)技術(shù)的持續(xù)進步已經(jīng)對測試儀器和系統(tǒng)提供了相對更高的性能要求，而今天的半導體測試系統(tǒng)提供了具有高功耗的數(shù)GHz測試功能。在**-航天應(yīng)用，數(shù)字功能測試要求不斷的提出一系列特的要求和挑戰(zhàn)。與設(shè)備測試相關(guān)的測試要求不同，M-A應(yīng)用主要側(cè)重于支持模塊和系統(tǒng)級測試。