HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。電源完整性(PI)是電子行業(yè)中廣泛使用的一個(gè)術(shù)語(yǔ)，可系統(tǒng)內(nèi)部電源從源端向負(fù)載轉(zhuǎn)換和傳輸?shù)男省ｋS著數(shù)字信號(hào)速率的不斷提升，特別是提升到10Gbps以上數(shù)量級(jí)后，電源完整性的測(cè)量成為關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目之一。測(cè)量?jī)?nèi)容PARD—周期和隨機(jī)偏差，描述了在其他所有參數(shù)均為常數(shù)時(shí)直流輸出與直流平均值的偏差，用來(lái)衡量直流輸出經(jīng)過(guò)電壓調(diào)整和濾波電路之后所殘留的多余的交流和噪聲分量。負(fù)載響應(yīng)—指一個(gè)靜態(tài)或瞬態(tài)負(fù)載，根據(jù)預(yù)先確定的負(fù)載可以衡量電源維持在輸出電壓范圍內(nèi)的能力。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

它們具有非常線性（在1kHz/94dBSPL時(shí)，總諧波失真（HarmonicDistortion，簡(jiǎn)稱HD）為.1%或更優(yōu)），且動(dòng)態(tài)范圍也很寬（通常優(yōu)于3dBA至12dBA）。此外，MEMS麥克風(fēng)對(duì)溫度變化的敏感性很小，同樣地，它們的麥克風(fēng)振膜小巧輕薄，以至于對(duì)振動(dòng)的敏感性比靜電式麥克風(fēng)低1倍以上。另外，MEMS麥克風(fēng)大規(guī)模供應(yīng)消費(fèi)電子市場(chǎng)，因此價(jià)格也非常便宜。它們的靈敏度隨時(shí)間變化依然非常穩(wěn)定，通常不需要重新校準(zhǔn)即可保持在I型規(guī)范的范圍內(nèi)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)?zāi)阒垃F(xiàn)在的處理器已經(jīng)發(fā)展為8核和10核處理器了嗎?這些處理器需要多個(gè)內(nèi)核來(lái)同時(shí)運(yùn)行很多應(yīng)用程序，操作游戲和高質(zhì)量流的圖形處理器。這些全新的處理器需要很高的電流(有時(shí)超過(guò)10A)，并且需要以盡可能快的速度傳送這個(gè)電流。由于不斷增長(zhǎng)的內(nèi)核數(shù)量，為這些處理器供電的器件的屬性也在發(fā)生著變化。在滿足小外形尺寸需要的同時(shí)，需要真正的業(yè)內(nèi)進(jìn)的電源技術(shù)。TI有幾款為處理器供電的降壓轉(zhuǎn)換器，諸如TPS62180、LP8758和TPS62184。