HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。尤其是在以下兩種情況下，非常不建議采用兩線制測(cè)試：測(cè)試導(dǎo)線過(guò)長(zhǎng)，R1R2偏大，有時(shí)甚至?xí)叱霰粶y(cè)電阻，兩線制測(cè)試極易導(dǎo)致結(jié)果錯(cuò)誤；被測(cè)電阻Rb為低阻值時(shí)，饋線電阻的影響會(huì)比平時(shí)更大，也容易造成讀數(shù)誤差較大。蓄電池的內(nèi)阻很小，2V電芯的典型內(nèi)阻為.3mΩ，所以對(duì)于此類阻值的測(cè)量，需要采用更的測(cè)試方法。四線制測(cè)試原理四線制測(cè)試法即為開(kāi)爾文測(cè)試法。如下圖所示，開(kāi)爾文連接有兩個(gè)要求：對(duì)于每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都有一條激勵(lì)線和一條檢測(cè)線,二者嚴(yán)格分開(kāi)，各自構(gòu)成立回路：激勵(lì)回路用于測(cè)定流過(guò)Rb的電流I1，檢測(cè)回路用于測(cè)定Rb兩端的電壓V34，因電壓表的內(nèi)部阻抗遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于檢測(cè)回路的饋線電阻R3和R4，因此流經(jīng)電壓表的電流I2幾乎為零，所量到的電壓V34也幾乎是Rb本身的壓降。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

傳統(tǒng)的解決方案是加TVS管，但它有比較大的體積和相對(duì)高的重量等缺點(diǎn)。那么ADI是怎么解決的呢?Lorry解答到：“我們考慮SurgeStopper，通過(guò)反饋和MOSFET控制把瞬間脈沖的干擾電源尖峰部分消掉，確保輸出電壓在我們?cè)O(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之內(nèi)，車身系統(tǒng)系統(tǒng)會(huì)更加**。再結(jié)合可控的電源工藝，車身系統(tǒng)就不會(huì)因?yàn)橐馔獾母蓴_造成組件損壞?！保嚎商娲鶷VS和絲的浪涌器方案。激光雷達(dá)、普通雷達(dá)、相關(guān)測(cè)量測(cè)控單元是未來(lái)自動(dòng)駕駛非常核心和關(guān)鍵的平臺(tái)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做巴氏酵母和短乳桿菌分離的實(shí)驗(yàn)裝置示意圖。在入口處（即A-A），巴氏酵母和短乳桿菌隨機(jī)分散。在慣性分餾（即B-B）之后，巴氏酵母沿著通道的內(nèi)壁聚焦，并且通過(guò)在分叉點(diǎn)處放置適當(dāng)?shù)某隹?，可以分離這些細(xì)胞。在梯形截面的螺旋通道中，通過(guò)慣性升力和迪恩阻力的聯(lián)合作用，內(nèi)壁受力大于外壁，酵母細(xì)胞向出口內(nèi)壁遷移。研究人員通過(guò)評(píng)估，選擇1.5mL/min的流速作為流速，對(duì)巴氏酵母可以實(shí)現(xiàn)超過(guò)90％的分離效率。此外，為了提高短乳桿菌的分離效率，將其通過(guò)螺旋微通道再循環(huán)三次，分離效率可達(dá)90％以上。