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HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定制定做
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。為了同時(shí)實(shí)現(xiàn)多通道和高速采集,橫河SMARTDAC+系列采集器采用了各模塊立A/D的硬件設(shè)計(jì),各模塊間的數(shù)據(jù)采集并行處理,而主機(jī)CPU負(fù)責(zé)所有通道的數(shù)據(jù)保存和上位通信,從而可以保證5ms*1ch的系統(tǒng)性能。靈活的信號(hào)輸入在研究和設(shè)計(jì)開發(fā)領(lǐng)域使用的記錄儀,需要根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康挠涗洀膫鞲衅骰蛘邚碾妷?電流源得到的信號(hào)。因此需要對(duì)應(yīng)溫度傳感器和電壓量程??刹鹦抖俗恿硗猓帱c(diǎn)測(cè)試有大量接線的工作,為了提高接線的作業(yè)效率,可以選擇端子可拆卸的產(chǎn)品。
1.2 技術(shù)參數(shù)要求
恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)
輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)
工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)
輸出相數(shù):三相 多路
可控硅檢測(cè)方案電控系統(tǒng)長時(shí)間運(yùn)行后,電發(fā)動(dòng)機(jī)會(huì)出現(xiàn)跳閘等故障。基于此,對(duì)可控硅性能好壞進(jìn)行檢測(cè),對(duì)于系統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對(duì)電氣設(shè)備的檢測(cè)設(shè)備及方法有萬用表、漏電儀、搖表,另外,還可以利用示波器觀測(cè)導(dǎo)通電流以判斷可控硅導(dǎo)通情況。在實(shí)際生產(chǎn)中,僅采用萬用表無法判斷可控硅的故障。下面對(duì)幾種檢測(cè)方法進(jìn)行對(duì)比,以得出可控硅檢測(cè)的方法。漏電儀檢測(cè)法(耐壓試驗(yàn))采用大電流發(fā)生器(簡稱升流器)對(duì)可控硅K兩極之間進(jìn)行漏電試驗(yàn)。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號(hào) |
名稱 |
數(shù)量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器 |
1 |