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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP柜溫升測試儀HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。三回路JP柜溫升測試儀HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 三回路JP柜溫升測試儀HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修 

三回路JP柜溫升測試儀HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。Rogowski線圈是以德國物理學家WalterRogowski命名,用于測量交流電電器設備,我們通常也會叫做柔性線圈、羅氏線圈或者洛氏線圈。對于這一技術(shù)常見的使用場景有:脈沖電流、工頻正弦電流、高速瞬間、交流電流、高次諧波電流、復雜波形電流、瞬態(tài)沖擊電流、啟動電流、相位、電能、功率和功率因數(shù)等檢測。ETCR銥泰科技推出ETCR-FA和ETCR-FB系列柔性線圈,可搭配ETCR1F分離式柔性線圈積分器使用。

三回路JP柜溫升測試儀HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

2ATPS82140功率模塊的降額曲線如所示,降額曲線會隨著輸入與輸出電壓的變化而發(fā)生微小的變化,因此必須查看特定設計相對應的曲線。一般來說,隨著輸出電壓的增大,降額情況會變得稍差一些,因為總輸出功率和總功率損耗也會增大。這一點可通過效率得到平衡,因為效率會隨著輸出電壓的增大而提高,同時有助于降低功率損耗。后,降額曲線基于一個特定的印刷電路板(PCB),而此電路板通常是功率模塊的評估模塊(EVM)。三回路JP柜溫升測試儀HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP柜溫升測試儀HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修CSP(ChipScalePACkage):芯片級封裝,該方式相比BGA同等空間下可以將存儲容量提升三倍,是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage):雙列直插式封裝,插裝型封裝之一,指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片,體積比較大。MCM(MultiChipModel):多芯片模塊封裝,可根據(jù)基板材料分為MCM-L,MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage):四側(cè)引腳扁平封裝,表面貼裝型封裝之一,引腳通常在100以上,適合高頻應用,基材方面有陶瓷、金屬和塑料三種。三回路JP柜溫升測試儀HNDL 箱變溫升試驗設備 容量大 5年保修


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