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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。但現(xiàn)在,僅有核心工程概念的知識(shí)已經(jīng)不夠了。您必須在所使用的工具和編程結(jié)構(gòu)語義中執(zhí)行這些概念,來創(chuàng)造定制的邏輯。引入了新的非編程工作流,用于測(cè)量數(shù)據(jù)采集、和可視化,補(bǔ)充了源自LabVIEW的圖形數(shù)據(jù)流編程范例。它通過將原生學(xué)習(xí)系統(tǒng)集成至環(huán)境中,簡化了使用一種新工具、編碼軟件語言和執(zhí)行工程理論帶來的挑戰(zhàn)。這種學(xué)習(xí)系統(tǒng)在單一環(huán)境同執(zhí)行以上三方面。對(duì)于空間姿態(tài),在您次使用這些新功能時(shí),該環(huán)境顯示覆蓋提示與上下文信息。

JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

另一方面,在電源從額定負(fù)載到限流點(diǎn)負(fù)載范圍內(nèi),電源又無法實(shí)現(xiàn)過流保護(hù),將嚴(yán)重影響電源可靠性、壽命等。負(fù)載調(diào)整率和負(fù)載要求對(duì)單路輸出電源,一般無負(fù)載要求。但當(dāng)負(fù)載降低到額定負(fù)載10%以下,為降低電源空載或輕載功耗,會(huì)進(jìn)入間歇工作模式,雖不影響其正常工作,但其紋波可能會(huì)增大并出現(xiàn)聽覺噪聲。選擇電源模塊時(shí)功率亦需考慮。如負(fù)載低于1W,卻選擇10W或更大功率的電源明顯是不合適的。除此之外,對(duì)雙路及更多路輸出電源,通常要求每一路都帶有至少10%額定負(fù)載。JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)電磁干擾對(duì)于檢測(cè)系統(tǒng)來說,也是為普遍并且也是影響為嚴(yán)重的干擾。電磁干擾也是我們?cè)跍y(cè)試時(shí)的注意點(diǎn)。經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的干擾就包括:靜電耦合形成干擾、電磁耦合形成干擾、輻射電磁場(chǎng)耦合形成干擾等等。我們一般解決干擾會(huì)從三個(gè)方向著手:解決干擾源舉個(gè)例子,在電源測(cè)試時(shí),我們會(huì)發(fā)現(xiàn)被測(cè)系統(tǒng)里有很多繼電器、接觸器和斷路器的電觸點(diǎn),上下電時(shí)的這些電觸點(diǎn)的火花是很強(qiáng)的干擾源。如果我們此時(shí)正在測(cè)試電觸點(diǎn)附近的電路則很容易發(fā)現(xiàn)測(cè)試值有些波動(dòng)異常。JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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