HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。在大多數(shù)流量表應(yīng)用中，主Arm-M4F應(yīng)用微控制器(MCU)可能僅需要每天傳輸兩三次測(cè)量結(jié)果。主MCU能在兩次傳輸之間保持待機(jī)模式，這顯著降低了系統(tǒng)的平均電流消耗。監(jiān)控水或燃?xì)饬髁渴冀K是必須要做的工作，因此您可以部署立的16位MCU超低功率協(xié)處理器，由該協(xié)處理器在主MCU待機(jī)時(shí)實(shí)施低功率測(cè)量。Simplelink?CC1312andCC1352R/P設(shè)備平臺(tái)(見圖1)及其超低功率傳感器控制器使您能夠獲得低功率并管理應(yīng)用、計(jì)量和無線射頻(RF)通信，所有這些功能均由單一芯片承載。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

電壓暫降目前被公認(rèn)為電子制造業(yè)危害的電能質(zhì)量問題。芯片測(cè)試儀:電壓低于85%時(shí)，測(cè)試儀停止工作，芯片、主板被毀壞工業(yè)機(jī)器人：由機(jī)器人控制對(duì)金屬部件進(jìn)行鉆、切割等精密加工的機(jī)械工具，為保證產(chǎn)品質(zhì)量和**，工作電壓檻值一般設(shè)為90%，當(dāng)電壓低于此值、持續(xù)時(shí)間超過40～60ms時(shí)，被跳閘。變頻調(diào)速器：當(dāng)電壓低于70%且持續(xù)時(shí)間超過120ms時(shí)，ASD被切除。而對(duì)于一些精細(xì)加工業(yè)中的電機(jī)，當(dāng)電壓低于90%且持續(xù)時(shí)間超過60ms時(shí)，電機(jī)就會(huì)跳閘而退出運(yùn)行。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜多回路溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)為避免此問題，運(yùn)維人員需要對(duì)爐內(nèi)運(yùn)行狀況進(jìn)行定期檢測(cè)。傳統(tǒng)檢測(cè)方式只能通過人眼觀察以及對(duì)爐內(nèi)進(jìn)行接觸式單點(diǎn)測(cè)溫，粗略判斷爐內(nèi)運(yùn)行狀況，而紅外熱像儀可實(shí)現(xiàn)全像面、遠(yuǎn)距離觀測(cè)。工作時(shí)裂解爐內(nèi)的溫度高達(dá)1℃，工作人員通過巨哥電子熱像儀直觀地了解到裂解爐內(nèi)包括對(duì)流管、爐壁的溫度狀態(tài)以及因長期使用后產(chǎn)生的外部結(jié)垢、內(nèi)部堵塞等。此外，在石化生產(chǎn)過程中存在大量的管道及熱力設(shè)備需要進(jìn)行保溫處理，保溫效果的好壞直接關(guān)系到產(chǎn)能建設(shè)和運(yùn)營成本。