HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。從液晶儀表盤PCB圖不難看出與傳統(tǒng)儀表相比，全液晶儀表多了與顯示相關(guān)的部件，比如：顯示屏、GPU處理器、屏正負(fù)壓、屏背光等。改用液晶屏幕后不僅增加了產(chǎn)品軟硬件設(shè)計(jì)的難度，產(chǎn)品的EMC設(shè)計(jì)也成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)的難點(diǎn)。由上圖R/G/B液晶屏的架構(gòu)可知，其主要包括時(shí)鐘電路、數(shù)據(jù)電路、供電電路。在高速數(shù)字系統(tǒng)中，固定頻率的時(shí)鐘是主要的電磁干擾源之一。隨著數(shù)據(jù)傳輸速率的提升，時(shí)鐘頻率越來越高，信號(hào)的邊沿率（即上升時(shí)間和下降時(shí)間）也隨之提高。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

其無線發(fā)射頻段工作在ISM頻段,常用的有315MHz和433.92MHz。發(fā)射信號(hào)的調(diào)制采用頻移鍵控（2FSK）或幅移鍵控（ASK）。對(duì)于胎壓監(jiān)測系統(tǒng)（TPMS）通常會(huì)進(jìn)行傳感器及無線通信信號(hào)質(zhì)量測試。無線通信信號(hào)測試分為監(jiān)測模塊的發(fā)射測試，包含發(fā)射功率，發(fā)射頻率及頻偏（對(duì)于2FSK）測試；及中控臺(tái)的接收端的接收靈敏度測試。對(duì)于發(fā)射測試，可以通過DSA700/800系列頻譜儀直接進(jìn)行發(fā)射功率及發(fā)射頻率測試。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做其中半導(dǎo)體器件(包括：半導(dǎo)體分立器件、集成電路等)大多數(shù)是輻射敏感器件，輻射環(huán)境對(duì)這些器件的性能會(huì)產(chǎn)生不同程度的影響，甚至使其失效。針對(duì)輻射效應(yīng)，在器件的材料、電路設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、工藝制造及封裝等各個(gè)環(huán)節(jié)采取加固措施，使其具有一定的抗輻射性能。選擇抗輻射加固的器件應(yīng)用在空間輻射環(huán)境中，將能提高航天器的可靠性和使用壽命;應(yīng)用在戰(zhàn)略中，將能提高其效能和突防能力?？臻g輻射環(huán)境對(duì)電子器件主要產(chǎn)生電離輻射總劑量(TID)效應(yīng)和單粒子效應(yīng)(SEE);核輻射環(huán)境尤其是核環(huán)境，主要產(chǎn)生瞬時(shí)電離輻射總劑量效應(yīng)、中子輻射效應(yīng)和電磁脈沖損傷效應(yīng)。