HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) JP柜溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗的要求。X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測量的理論統(tǒng)計誤差來表示的，BX系列波長色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測樣品測量的精度，被樣品的制樣技術(shù)成為影響準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫?qū)从吃诮Y(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個方面：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)標(biāo)樣元素測定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計數(shù)的統(tǒng)計誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的干擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體系中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

任何一起在使用過程中都可能操作失誤或者使用方法不當(dāng)，造成測試數(shù)據(jù)錯誤，儀器的保費損害，為了增加使用的壽命和儀器的度我們應(yīng)該從使用把關(guān)。不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)無損檢測的特點就是能在不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行檢測，所以實施無損檢測后，產(chǎn)品的檢查率可以達(dá)到。并不是所有需要測試的項目和指標(biāo)都能進(jìn)行無損檢測，無損檢測技術(shù)也有自身的局限性。某些試驗只能采用破壞性試驗，在目前無損檢測還不能代替破壞性檢測。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜溫升大電流發(fā)生器HNDL 大電流溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗結(jié)構(gòu)清晰的測試數(shù)據(jù)可讓工程師將基本統(tǒng)計數(shù)據(jù)應(yīng)用于人工智能和機(jī)器學(xué)習(xí)，從而將Python、R和TheMathWorks，Inc.MATLAB軟件等常用工具集成到工作流程中，進(jìn)而從數(shù)據(jù)中提取更多有用的信息。開發(fā)、部署和管理測試軟件傳統(tǒng)的桌面應(yīng)用程序正在逐步轉(zhuǎn)向基于網(wǎng)絡(luò)的移動應(yīng)用程序。這種轉(zhuǎn)變使得測試難以實現(xiàn)。，需要在被測設(shè)備(DUT)上進(jìn)行實時計算，以處理海量數(shù)據(jù)并實時做出測試通過/失敗的決策，同時本地操作員需要與測試設(shè)備和DUT進(jìn)行交互。