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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。RS485是一種非常常用的差分通信總線,傳輸距離較遠(yuǎn),抗干擾性也很好。但是對(duì)于通訊過程中的偶然故障,如何才能實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)達(dá)幾小時(shí),甚至是幾天的通信過程監(jiān)控呢?測(cè)試需求:低成本長(zhǎng)期監(jiān)控RS485總線通信過程。測(cè)試難點(diǎn):RS485本身是差分總線,需要使用差分才能準(zhǔn)確捕獲信號(hào),但業(yè)內(nèi)很少有邏輯儀的差分,而且價(jià)值非常昂貴。測(cè)試步驟:先用示波器配合普通看一下波形,如。圖1示波器配合普通捕獲的波形我們可以清楚的看到在通訊協(xié)議信號(hào)上疊加了非常大的共模干擾。

JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

具體地,就是通過變壓器設(shè)計(jì)使公共繞組3的等值阻抗等于0或近似等0。上述兩個(gè)條件同時(shí)滿足,即可有效諧波在變壓器中的流通路徑,使諧波不至于通過變壓器回饋至網(wǎng)側(cè),從而起到對(duì)諧波隔離的作用。濾波器設(shè)計(jì)1雙調(diào)諧濾波器特性根據(jù)直流輸電系統(tǒng)的特點(diǎn),建立如所示用來驗(yàn)證新型濾波方式及對(duì)比與傳統(tǒng)無源濾波效果差異的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。整流站采用新型換流變壓器,二次繞組有抽頭引出接DT5/7和DT11/13,一次繞組出線端,即網(wǎng)側(cè)接二階高通濾波器HP2及并聯(lián)電容器;逆變站采用傳統(tǒng)換流變壓器,這里不再說明。JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修簡(jiǎn)介40多年來,數(shù)字功能測(cè)試一直是測(cè)試領(lǐng)域的一部分。早的測(cè)試系統(tǒng)采用簡(jiǎn)單的靜態(tài)數(shù)字測(cè)試功能。然而,隨著這些數(shù)字設(shè)備,模塊和系統(tǒng)的性能、復(fù)雜性的發(fā)展,數(shù)字測(cè)試儀器也在不斷發(fā)展。特別是,器件切換速率相關(guān)技術(shù)的持續(xù)進(jìn)步已經(jīng)對(duì)測(cè)試儀器和系統(tǒng)提供了相對(duì)更高的性能要求,而今天的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)提供了具有高功耗的數(shù)GHz測(cè)試功能。在**-航天應(yīng)用,數(shù)字功能測(cè)試要求不斷的提出一系列特的要求和挑戰(zhàn)。與設(shè)備測(cè)試相關(guān)的測(cè)試要求不同,M-A應(yīng)用主要側(cè)重于支持模塊和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修


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