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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。由于多種不同的原因,可能需要在電流檢測(cè)放大器(CSA)的輸入或輸出端進(jìn)行濾波。低于1m?的分流電阻具有并聯(lián)電感,在電流檢測(cè)線上會(huì)引起尖峰瞬態(tài)事件,從而使CSA前端過載。文章將討論濾除這些特定的尖峰瞬態(tài)事件的主要考慮因素。由于多種不同的原因,可能需要在電流檢測(cè)放大器(CSA)的輸入或輸出端進(jìn)行濾波。今天,我們將重點(diǎn)談?wù)勗谑褂谜嬲〉姆至麟娮瑁ㄔ?m?以下)時(shí),用NCS21xR和NCS199AxR電流檢測(cè)放大器實(shí)現(xiàn)濾波電路。

三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

在過去的幾十年里,很少有其它檢測(cè)儀器像光學(xué)投影比較儀那樣測(cè)量快捷、使用方便。光學(xué)投影比較測(cè)量是將投射到投影屏上的工件放大輪廓與繪制有按比例放大的工件正確外形及公差帶的透明膠片進(jìn)行對(duì)比,以直接判定工件合格與否。雖然隨著采用電子技術(shù)、精度更高的幾何形貌測(cè)量技術(shù)的發(fā)展,光學(xué)比較測(cè)量這種簡(jiǎn)單的檢測(cè)方式已顯得有些過時(shí),但投影比較儀仍然是生產(chǎn)車間常用的視覺檢測(cè)儀器。與此同時(shí),其它高技術(shù)測(cè)量?jī)x器的測(cè)量能力在不斷提高,如基于攝像機(jī)的視覺檢測(cè)系統(tǒng)能夠降低操作者的人為誤差,使微小的工件形貌可見和可測(cè)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)大氣衰減的影響被測(cè)電氣設(shè)備表面紅外輻射能量,經(jīng)大氣傳輸?shù)郊t外檢測(cè)儀器,這就會(huì)受到大氣組合中的水蒸汽、化碳、一氧化碳等氣體分子吸收衰減和空氣中懸浮微粒散射衰減的影響。設(shè)備輻射能量傳輸?shù)乃p隨著檢測(cè)儀器到被測(cè)設(shè)備間的距離,會(huì)降低被測(cè)設(shè)備輻射的透過率,所以其衰減是隨距離的增大而增加。降低被檢設(shè)備故障部位與正常部位的輻射對(duì)比度,也會(huì)因?yàn)榧t外儀器接收到的目標(biāo)能量減少,使得儀器顯示出來的溫度低于被測(cè)故障點(diǎn)的實(shí)際溫度值,從而造成漏檢或誤診斷,尤其對(duì)于檢測(cè)溫升較低的設(shè)備故障時(shí)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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