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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做 

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。作為一種全新的基于示波器的頻譜方法,SpectrumView實(shí)現(xiàn)了信號(hào)的時(shí)域和頻域并行處理。對(duì)于要求高頻率分辨率的應(yīng)用場(chǎng)合,傳統(tǒng)的FFT方式需要增大水平時(shí)基才可以實(shí)現(xiàn),這不僅降低了測(cè)量速度,而且也無(wú)法觀測(cè)時(shí)域波形的細(xì)節(jié)。SpectrumView支持時(shí)頻域的立設(shè)置,即使在很小的水平時(shí)基設(shè)置下,依然可以獲得很高的頻率分辨率,不僅可以觀測(cè)波形細(xì)節(jié),同時(shí)具有較高的頻譜刷新率。測(cè)試了一個(gè)100MHz的CW信號(hào),捕獲了4個(gè)周期的時(shí)域波形。

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X射線熒光,其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。射線熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做將粗糙度影響程度降到,這樣我們才能獲得準(zhǔn)確的測(cè)量值。擠壓層的影響及解決辦法擠壓層即經(jīng)車床精車加工出來(lái)的試件表面上的一層薄薄的硬層。試件在被精車加工時(shí),車刀同時(shí)對(duì)試件表面有一個(gè)擠壓(滾壓)作用,使精車面表層的金屬晶粒變形細(xì)化,較試件深層的金屬晶粒更細(xì)密,從而產(chǎn)生了一層薄薄的硬層。硬層厚度一般在0.3毫米左右。這一硬層致使硬度測(cè)量值偏高于真空值,對(duì)用臺(tái)式硬度計(jì)和微電腦超聲硬度計(jì)測(cè)量硬度的準(zhǔn)確性有不同程度的影響。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做


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