HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。EMI診斷在實(shí)驗(yàn)室使用普通的測(cè)試儀器即完成，帶有FFT功能的中示波器，普通的頻譜儀，近場(chǎng)，手藝好的工程師還可以自己制作性能良好的近場(chǎng)，對(duì)于很多較強(qiáng)的EMI輻射，某些回路過(guò)大的開(kāi)關(guān)電源，甚至只需要一根裸露的導(dǎo)線即可探測(cè)到空間中的擾信號(hào)。這種定性主要針對(duì)的是硬件設(shè)計(jì)人員，目的是要快捷簡(jiǎn)便，成本低廉，重復(fù)性好。圖2使用頻譜儀和近場(chǎng)進(jìn)行EMI診斷?EMI預(yù)兼容測(cè)試（PreCompliancEMI預(yù)兼容測(cè)試在產(chǎn)品原型和試產(chǎn)階段，一般要在產(chǎn)品級(jí)或系統(tǒng)級(jí)進(jìn)行預(yù)兼容（PreComplianc測(cè)試，預(yù)兼容并沒(méi)有一個(gè)明確的參考標(biāo)準(zhǔn)，就是盡量低成本地模擬兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)EMI狀況進(jìn)行較正式的摸底，避免在正式的兼容測(cè)試中失敗。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

只要在線圈兩端加上一定的電壓，線圈中就會(huì)流過(guò)一定的電流，從而產(chǎn)生電磁效應(yīng)，銜鐵就會(huì)在電磁力吸引的作用下克服返回彈簧的拉力吸向鐵芯，從而帶動(dòng)銜鐵的動(dòng)觸點(diǎn)與靜觸點(diǎn)(常開(kāi)觸點(diǎn))吸合。當(dāng)線圈斷電后，電磁的吸力也隨之消失，銜鐵就會(huì)在彈簧的反作用力作用下返回原來(lái)的位置，使動(dòng)觸點(diǎn)與原來(lái)的靜觸點(diǎn)(常閉觸點(diǎn))吸合。這樣吸合、釋放，達(dá)到在電路中的導(dǎo)通、切斷的目的。繼電器的“常開(kāi)”、“常閉”觸點(diǎn)可以這樣來(lái)區(qū)分：繼電器線圈未通電時(shí)處于斷開(kāi)狀態(tài)的靜觸點(diǎn)，稱為“常開(kāi)觸點(diǎn)”;處于接通狀態(tài)的靜觸點(diǎn)稱為“常閉觸點(diǎn)”。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）