HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。所以，熔接前要根據(jù)系統(tǒng)使用的光纖和工作波長(zhǎng)來選擇合適的熔接程序。如沒有情況，一般都選用自動(dòng)熔接程序。制作光纖端面。光纖端面制作的好壞將直接影響接續(xù)質(zhì)量，所以在熔接前一定要做好合格的端面。用的剝線鉗剝?nèi)ネ扛矊樱儆谜淳凭那鍧嵜拊诼憷w上擦拭幾次，用力要適度，然后用精密光纖切割刀切割光纖，對(duì)0.25mm(外涂層)光纖，切割長(zhǎng)度為8mm-16mm，對(duì)0.9mm(外涂層)光纖，切割長(zhǎng)度只能是16mm。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

本文包含了對(duì)歐氏空間望遠(yuǎn)鏡的概述、MIT性能的簡(jiǎn)單描述以及完成的目標(biāo)。歐氏空間望遠(yuǎn)鏡歐氏空間望遠(yuǎn)鏡等多孔徑望遠(yuǎn)鏡配置為達(dá)到大型孔徑光學(xué)系統(tǒng)提出了一種特的可行方法。開發(fā)多個(gè)立望遠(yuǎn)鏡孔徑的動(dòng)機(jī)是為了提供從空間進(jìn)行高分辨率的觀測(cè)，避免在大型孔徑（大重量）情況下以及使用自適應(yīng)波前控制導(dǎo)致的局限性。多個(gè)望遠(yuǎn)鏡光學(xué)鏡片可以比單筒大型鏡片直徑縮小許多，這是在重量以及外形上的重要改進(jìn)。帶有Fizeau類型組合光學(xué)配置的Michelson干涉儀被選用實(shí)現(xiàn)合成孔徑技術(shù)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)老化測(cè)試是產(chǎn)品生產(chǎn)中的環(huán)節(jié)，對(duì)于CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量的老化測(cè)試呢？本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡(jiǎn)述測(cè)試方法。什么是老化測(cè)試?yán)匣瘻y(cè)試是將產(chǎn)品置于實(shí)際使用環(huán)境中評(píng)測(cè)其使用壽命、穩(wěn)定性等指標(biāo)的一種測(cè)試方式。比如對(duì)塑膠材料制品，常使用光照老化、濕熱老化、熱風(fēng)老化。對(duì)于電子設(shè)備的老化測(cè)試，除了以上材料老化測(cè)試還經(jīng)常需要上電測(cè)試，以此來考驗(yàn)產(chǎn)品的穩(wěn)定性。老化測(cè)試通常在的老化室中進(jìn)行。老化室CAN通訊設(shè)備老化測(cè)試對(duì)于CAN通信設(shè)備的老化測(cè)試，主要是功能性老化測(cè)試。