HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。為了解決這個(gè)問題，必須制定一系列的內(nèi)部接口標(biāo)準(zhǔn)，否則行業(yè)將成為碎片化的產(chǎn)業(yè)。2003年，由ARM,Nokia,ST,TI等公司聯(lián)合成立了一個(gè)聯(lián)盟——MIPI是，目的就是是把內(nèi)部的接口如攝像頭、顯示屏接口、射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，從而減少設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度和增加設(shè)計(jì)靈活性。MIPI聯(lián)盟下面有不同的WorkGroup，分別定義了一系列的內(nèi)部接口標(biāo)準(zhǔn)，比如攝像頭接口CS顯示接口DS射頻接口DigR麥克風(fēng)/喇叭接口SLIMbus等。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

無論是實(shí)驗(yàn)室環(huán)境還是生產(chǎn)車間，都需要采用更的半導(dǎo)體測試方法。半導(dǎo)體測試是NI的戰(zhàn)略重點(diǎn)。我們正在擴(kuò)展我們的軟件平臺(tái)和PXI功能，以幫助芯片制造商應(yīng)對(duì)他們面臨的挑戰(zhàn)，這一點(diǎn)通過NI的PXISMU可以完全體現(xiàn)出來。”由于其高吞吐量、高性價(jià)比和占地面積小，NI的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)(STS)正在快速應(yīng)用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進(jìn)一步增強(qiáng)了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點(diǎn)應(yīng)用具有更高的并行性，以及在生產(chǎn)中提供實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的測量質(zhì)量。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）