HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。推理機(jī)只負(fù)責(zé)診斷推理，測(cè)試則由測(cè)試系統(tǒng)完成。與傳統(tǒng)的診斷和測(cè)試融合在一起不同，診斷模塊（IEEE1232推理機(jī)）在不同測(cè)試系統(tǒng)間是可互換的。在故障樹時(shí)，依照IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)生成可交換的診斷信息文件，診斷知識(shí)將在不同測(cè)試系統(tǒng)間共享。通過嚴(yán)格按標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施推理機(jī)的通信接口，就可以實(shí)現(xiàn)診斷模塊的移植，達(dá)到測(cè)試與診斷的分離。參考IEEE1232標(biāo)準(zhǔn),TestCenter開發(fā)了故障診斷子系統(tǒng)，如所示，TestCenter故障診斷由三部分組成：診斷模型制作器、診斷推理機(jī)和診斷程序。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

可控硅檢測(cè)方案電控系統(tǒng)長時(shí)間運(yùn)行后，電發(fā)動(dòng)機(jī)會(huì)出現(xiàn)跳閘等故障。基于此，對(duì)可控硅性能好壞進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)于系統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對(duì)電氣設(shè)備的檢測(cè)設(shè)備及方法有萬用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測(cè)導(dǎo)通電流以判斷可控硅導(dǎo)通情況。在實(shí)際生產(chǎn)中，僅采用萬用表無法判斷可控硅的故障。下面對(duì)幾種檢測(cè)方法進(jìn)行對(duì)比，以得出可控硅檢測(cè)的方法。漏電儀檢測(cè)法（耐壓試驗(yàn)）采用大電流發(fā)生器（簡(jiǎn)稱升流器）對(duì)可控硅K兩極之間進(jìn)行漏電試驗(yàn)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員正面臨越來越多的挑戰(zhàn)，他們需要在不降低系統(tǒng)組件(：高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器)性能的情況下讓其設(shè)計(jì)程度地節(jié)能。設(shè)計(jì)人員們可能會(huì)轉(zhuǎn)而采用許多電池供電的應(yīng)用(：某種手持終端、軟件無線設(shè)備或便攜式超聲波掃描儀)，也可能會(huì)縮小產(chǎn)品的外形尺寸，從而需要尋求減少發(fā)熱的諸多方法。降低系統(tǒng)功耗的一種方法是對(duì)高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的電源進(jìn)行優(yōu)化。數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)和工藝技術(shù)的一些進(jìn)展，讓許多新型ADC可以直接由開關(guān)電源來驅(qū)動(dòng)，從而達(dá)到化功效的目的。