HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。與聯(lián)合電子設(shè)備工程委員會(huì)(JEDEC)的測(cè)試PCB不同的是，EVM能夠更確切地體現(xiàn)實(shí)際設(shè)計(jì)問(wèn)題。而采用與3ATPS82130、2ATPS82140和1ATPS82150腳位兼容和腳位相同的設(shè)計(jì)方式則可以發(fā)揮更好的降額性能，從而減少電源設(shè)計(jì)人員所面臨的難題。即便在輸出達(dá)到5V時(shí)，TPS82140也可以在65°C的溫和溫度下**地提供完整的2A電流。所示，低電流TPS82150在高達(dá)95°C的溫度下仍能供應(yīng)完整的1A電流。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

幾乎所有需要進(jìn)行波形顯示的測(cè)量?jī)x器都面臨一個(gè)問(wèn)題：待顯示的波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)不等于屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù)，在這樣的情況下，如何把波形繪制到顯示區(qū)域中去？本文將為你介紹一下解決這一問(wèn)題的幾種方案。種情況：波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)大于屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù)，在不同情況下，使用的抽取方案不同。等間隔抽取等間隔抽取這其實(shí)就是一個(gè)如何把大量波形壓縮到特定點(diǎn)數(shù)的問(wèn)題，針對(duì)這個(gè)問(wèn)題我們很自然就可以想到采用等間隔波形抽取。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路JP柜溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)PCIe是一個(gè)在很多領(lǐng)域中都有著廣泛且重要應(yīng)用的接口，經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展，PCIe接口已經(jīng)從1.發(fā)展到現(xiàn)在的3.，4.也已即將開(kāi)始應(yīng)用。PCIe技術(shù)的物理層基于串行SerDes技術(shù)，因此用極少的物理連線就可以實(shí)現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)傳輸。筆者在前段時(shí)間碰上了兩個(gè)PCIe接口失效的問(wèn)題，個(gè)經(jīng)過(guò)是PCIe的ESD防護(hù)沒(méi)有做好導(dǎo)致通訊中斷，個(gè)是電源負(fù)載過(guò)大導(dǎo)致PCIe供電異常，F(xiàn)PGAPCIeIPCORE邏輯時(shí)鐘失鎖。