HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) JP柜多回路溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗 

用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。電容種類繁雜，但無論再怎么分類，其基本原理都是利用電容對交變信號呈低阻狀態(tài)。交變電流的頻率f越高，電容的阻抗就越低。旁路電容起的主要作用是給交流信號提供低阻抗的通路;去耦電容的主要功能是提供一個局部的直流電源給有源器件，以減少開關(guān)噪聲在板上的傳播和將噪聲引導(dǎo)到地，加入去耦電容后電壓的紋波干擾會明顯減小;濾波電容常用于濾波電路中。對于理想的電容器來說，不考慮寄生電感和電阻的影響，那么在電容設(shè)計上就沒有任何顧慮，電容的值越大越好。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

由P區(qū)引出的電極為陽極，由N區(qū)引出的電極為陰極，如下圖所示，溫度對二極管的性能有較大的影響，這是由于半導(dǎo)體材料的特性所致，溫度升高時，二極管的正向壓降將減小，每增加1oC，正向壓降減小約2mV，可以從下圖看出，由半導(dǎo)體理論可以得出，PN結(jié)所加端電壓u與流過它的電流i的關(guān)系為：其中，Is為反向飽和電流，對于硅材料來說，Is約為10pA;q為電子的電量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常數(shù)，k=1.38*10-23J/K；T為溫度，kT/q可以用UT來代替，則常溫下，即T=300K時，UT約為26mV。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）