HNDL系列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試系統(tǒng)智能型大電流發(fā)生器 溫升試驗(yàn)裝置 配電箱溫升試驗(yàn)裝置 5年保修

是青島華能遠(yuǎn)見(jiàn)有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。按照存儲(chǔ)芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會(huì)有比較大的風(fēng)險(xiǎn)，甚至?xí)?duì)卡片的正常工作帶來(lái)影響。需要考慮的是示波器的設(shè)置，究竟是否需要進(jìn)行20MHZ的帶寬限制？詳細(xì)的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測(cè)試“高頻開關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來(lái)的那個(gè)端口可以當(dāng)做電源的源端，而通過(guò)后端的外圍模塊后在末端進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，電源通過(guò)了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應(yīng)該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實(shí)際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進(jìn)行了對(duì)比測(cè)試進(jìn)行驗(yàn)證：步，我先驗(yàn)證IPAD的供電端在工作時(shí)的輸出，如下圖：通過(guò)直接驗(yàn)證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過(guò)測(cè)試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測(cè)量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測(cè)量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問(wèn)題，接下來(lái)，我們直接在通過(guò)整個(gè)模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對(duì)電行測(cè)量，如下圖：當(dāng)我們?cè)趫D片上的點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)在高頻開關(guān)電源上有相當(dāng)大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達(dá)到了3.814V，峰峰值達(dá)854mV；但當(dāng)我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時(shí)候，高頻開關(guān)電源變的非常好，完全在供電要求的范圍內(nèi)；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關(guān)電源測(cè)試過(guò)程中，已經(jīng)不是高頻開關(guān)電源紋波測(cè)量，而應(yīng)該是噪聲。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控制，式操作，簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無(wú)需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí)：B級(jí)

 如果您想測(cè)量信號(hào)占用帶寬也可使用軌跡保持功能。該實(shí)例將使用信號(hào)儀的信號(hào)跟蹤功能來(lái)保持漂移信號(hào)一直顯示在中心位置，使用信號(hào)儀的軌跡保持功能捕獲漂移。將頻率為3MHz、幅度為-2dBm的信號(hào)輸入到451信號(hào)儀中；設(shè)置信號(hào)儀的中心頻率為3MHz、頻寬為1MHz和參考電平為-1dBm；將標(biāo)記放到信號(hào)峰值位置，通過(guò)頻率、[信號(hào)跟蹤開關(guān)]打開信號(hào)跟蹤功能；減小頻寬到5kHz，可以看到信號(hào)一直保持在中心位置；關(guān)閉信號(hào)跟蹤功能，通過(guò)軌跡、[保持]打開保持功能測(cè)量信號(hào)漂移，當(dāng)信號(hào)變化時(shí)，保持功能將維持對(duì)輸入信號(hào)的響應(yīng)。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過(guò)流、過(guò)壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判別。測(cè)時(shí)范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.PerformanceTest即特定場(chǎng)景(SISO/MIMO)下的吞吐量測(cè)試5G的到來(lái)，為OTA測(cè)試帶來(lái)了新挑戰(zhàn)5G時(shí)代，系統(tǒng)頻段更高，此外MassiveMIMO技術(shù)的應(yīng)用，使得傳統(tǒng)的傳導(dǎo)復(fù)雜程度大大提高，除了，端也不得不進(jìn)行OTA測(cè)試。5GOTA測(cè)試面臨著一系列的新挑戰(zhàn)5GOTA測(cè)量需支持兩個(gè)頻段：FR1—6GHz以下頻段以及FR2—毫米波頻段。端引入的MassiveMIMO技術(shù)要求其至少支持8X8陣列天線，陣列合成波束的直接遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試對(duì)暗室尺寸要求很大。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過(guò)點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界面如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：所謂的脈沖充電延長(zhǎng)電池壽命或提高電池容量這一類神奇的充電器并不存在于鋰離子電池的世界中，鋰離子是非常“干凈”的系統(tǒng)。將鋰離子電池充電至高電壓后，電池會(huì)變得不穩(wěn)定。如果給4.2V的電池充電至4.3V，會(huì)使得電池正極積淀金屬鋰，負(fù)極材料被氧化，失去穩(wěn)定性的電池會(huì)產(chǎn)生CO2。電池內(nèi)壓力升高，如果保持充電狀態(tài)，內(nèi)壓達(dá)到1000-1380kPa時(shí)，保證電池**的電流切斷器（CID）即會(huì)切斷電流。當(dāng)壓力持續(xù)升高到3450kPa時(shí)，隔膜爆開脫落，電池可能終殼體泄漏，伴隨燃燒。

1.在連接儀器測(cè)試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。根據(jù)阻抗測(cè)量的激勵(lì)源的不同，我們將電抗測(cè)量分為直流阻抗測(cè)量和交流阻抗測(cè)量。直流阻抗測(cè)量測(cè)的是CAN通信網(wǎng)絡(luò)或CAN節(jié)點(diǎn)的等效電阻，而交流阻抗測(cè)量的是CAN通信網(wǎng)絡(luò)或CAN節(jié)點(diǎn)的等效電阻、容抗或感抗。測(cè)量原理直流阻抗測(cè)量原理單測(cè)量CAN總線之間的終端電阻大小可使用直流阻抗測(cè)量原理，即，給DUT一個(gè)直流電壓源Us和電阻R，與被測(cè)電阻Rtest形成回路，用萬(wàn)用表測(cè)量出電阻R兩端的電壓UR，然后根據(jù)歐姆定律可求出被測(cè)電阻Rtest。