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HNDL系列全自動大電流發(fā)生器測試系統(tǒng)溫升電流發(fā)生器 JP柜溫升試驗設(shè)備 三相溫升試驗系統(tǒng) 定制定做
是青島華能遠見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。可以用多種方法來縮短校準相位陣列天線所需的測試時間。其中有效的方法應(yīng)當是充分利用測試覆蓋范圍及其特定的天線體系結(jié)構(gòu)。從根本上講,對天線的陣元進行相對調(diào)整需要通過相對幅度(增益)和相位測量來實現(xiàn)。不過,這些測試需要由用戶使用射頻/微波在測試覆蓋范圍內(nèi)的頻率和相位AUT狀態(tài)下進行。為應(yīng)對大規(guī)模、多通道天線校準的挑戰(zhàn),是德科技推出了一種校準參考解決方案。該參考解決方案是硬件、軟件和測量專業(yè)知識的集成,為窄帶天線校準測試系統(tǒng)提供關(guān)鍵組件。
特點
1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設(shè)備,全自動控制,式操作,簡單方便。
2、 帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng),工控機可實現(xiàn)四遙控能
3、 采用當前電力電子技術(shù),抗干擾能力強,輸出精度高,紋波系數(shù)小于0.2%,準確度高于0.5%;。
4、 自動試驗只需設(shè)置好目標電流即可,無需人工監(jiān)控,僅需設(shè)定測試電流,省去手動調(diào)壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設(shè)定
5、絕緣耐壓 1800/AC 1min, 絕緣等級:B級
從上述原理可知,諧波源負載是否會對同一個電網(wǎng)上的電子設(shè)備造成干擾,主要取決于電子設(shè)備的電源線輸入端電壓諧波畸變的大小,以及電子設(shè)備供電電源的抗干擾能力。諧波源負載產(chǎn)生同樣的諧波電流的情況下,與變壓器之間的距離越遠,則對應(yīng)的電網(wǎng)阻抗越大,引起的電壓畸變就越大,越容易對同一個電網(wǎng)上的電子設(shè)備形成干擾。而不同的電子設(shè)備抗畸變電壓的能力也有優(yōu)劣之分,在同一供電網(wǎng)絡(luò),某臺電子設(shè)備會受干擾,并不意味著所有的電子設(shè)備在這個位置都會受干擾。
二、技術(shù)指標
1.輸入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設(shè)定。
3. 輸出開口電壓:0-20V.
4.電流精度 :各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào),精度高于0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值,精度高、穩(wěn)定度高。
5.電流波形失真 THD 1% 設(shè)計標準遠遠高于國標<<GB14048.2-14>>.
6.保護設(shè)置 過流、過壓
7.絕緣阻抗 20兆歐
8.絕緣耐壓 1800/AC 1MIN
9.可測被測元件的電流動作時間。并可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判別。測時范圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.將天線、射頻、模擬、數(shù)字處理器和適當?shù)慕涌诘葴蚀_地進行集成,需要昂貴和繁瑣的設(shè)計。但是現(xiàn)在,我們的集成雷達芯片帶來了許多性的即插即用解決方案。除了標準的汽車應(yīng)用之外,許多工業(yè)和商業(yè)應(yīng)用也可以從簡單易用的TI毫米波傳感器中獲益。集成DSP和微控制器的效率和便利性將提供多種用途。它可以通過實時監(jiān)控糾正前端異常情況來提高整體性能。此外,它還專門提供一個芯片上的平臺用于本地應(yīng)用程序和數(shù)據(jù)。,無人機上的嵌入式毫米波傳感器可以檢測農(nóng)業(yè)土壤和作物的品質(zhì)。
三、操作方法
1、儀器接入380V電壓,在將儀器后面電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。
2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān),等待幾秒進入試驗選擇界面如下圖:
電流輸出線與常閉觸點接入后,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束后,都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。
2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界面如下圖:
自動試驗時,每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運行可自由設(shè)定運行時間。如下圖:半導體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。
1.在連接儀器測試線前,應(yīng)先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。
2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。同時,毫米波對毛發(fā)具有一定的穿透能力,不至于對受檢人員的衣物造成大量虛警,減輕了安檢人員的工作負擔。相較而言,低頻段的毫米波探測設(shè)備雖然更容易實現(xiàn),但其分辨率隨著頻率降低和波長增加而變差,38GHz的信號只能探測4~5mm的物體,雖然經(jīng)濟,但不適用于標準的安檢工作。該頻段的電磁波對無害,相較于X光,毫米波的電磁輻射是非電離輻射;相較于低頻的設(shè)備,毫米波輻射的探測深度僅到表皮,不會到達真皮以下。