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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修
詳情介紹:

HNDL系列全自動大電流發(fā)生器測試系統(tǒng)大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修
大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修
是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率
50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗及溫升試驗。
則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進(jìn)口件)、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。、智能手表等便攜設(shè)備迅速普及,用戶端及嵌入式系統(tǒng)對GUI性能和外觀要求也越來越高。ZLG推出的AWTK憑借著開源、簡單易用、跨平臺同步開發(fā)等優(yōu)勢,逐漸在電子、工業(yè)控制等行業(yè)大放異彩。AWTK全稱為ToolkitAnywher,是ZLG傾心打造的一套基于C語言開發(fā)的GUI框架。旨在為用戶提供一個功能強(qiáng)大、可靠、簡單易用、可輕松做出炫酷效果的GUI引擎,并支持跨平臺同步開發(fā),一次編程,終生使用。

大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設(shè)備,全自動控制,式操作,簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng),工控機(jī)可實現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù),抗干擾能力強(qiáng),輸出精度高,紋波系數(shù)小于0.2%,準(zhǔn)確度高于0.5%;。

4、 自動試驗只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可,無需人工監(jiān)控,僅需設(shè)定測試電流,省去手動調(diào)壓,減小勞動強(qiáng)度,提高工作效率。運行時間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級:B

 大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修紅外熱像儀能對零度以上物體發(fā)出的熱輻射生成熱圖像。通過提供每一個像素的溫度測量值,研究人員可以以非接觸的方式對某一場景進(jìn)行觀察和測溫。由于紅外熱像儀提供的數(shù)據(jù)比熱電偶或點溫儀要多,而且可以追蹤隨時間推移所發(fā)生溫度變化,所以他們非常適合用于研究和工程設(shè)計項目。制冷型與非制冷型紅外探測器紅外探測器大體可分為兩類:一類是熱探測器,另一類是量子探測器。熱探測器,比如微測輻射熱計,會對射入的輻射能產(chǎn)生反應(yīng),加熱像素,通過電阻的變化來反映出溫度的變化。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設(shè)定

3. 輸出開口電壓:0-20V.

4.電流精度 :各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào),精度高于0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值,精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。并可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判別。測時范圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修據(jù),216年汽車電子標(biāo)簽(OBU)的市場需求量有近千萬套。某國內(nèi)ETC行業(yè)的企業(yè),OBU年銷量達(dá)數(shù)百萬套。他們在一款OBU中使用某MCU廠商的Cortex-M3內(nèi)核芯片作為主控MCU,量產(chǎn)時采用為在線編程的方式,在PCB板上,對MCU進(jìn)行批量燒錄。就像:在燒片過程中,客戶發(fā)現(xiàn)燒錄良率非常低,經(jīng)常莫名的燒錄失敗。每天幾千套的產(chǎn)能要求,低良率生產(chǎn),讓生產(chǎn)部門在燒錄環(huán)節(jié)束手無策。為提高產(chǎn)能效率及燒錄的穩(wěn)定性,客戶請求技術(shù)支持。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓,在將儀器后面電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān),等待幾秒進(jìn)入試驗選擇界面如下圖:

電流輸出線與常閉觸點接入后,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束后,都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進(jìn)入“自動試驗”界面如下圖:

自動試驗時,每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運行可自由設(shè)定運行時間。如下圖:示波器的采樣根據(jù)Nyquist采樣定理,當(dāng)對一個頻率為f的帶限信號進(jìn)行采樣時,采樣頻率SF必須大于f的兩倍以上才能確保從采樣值完全重構(gòu)原來的信號。這里,f稱為Nyquist頻率,2f為Nyquist采樣率。對于正弦波,每個周期至少需要兩次以上的采樣才能保證數(shù)字化后的脈沖序列能較為準(zhǔn)確的還原原始波形。如果采樣率低于Nyquist采樣率則會導(dǎo)致混迭(Aliasing)現(xiàn)象。采樣率SF2f,混迭失真和顯示的波形看上去非常相似,但是頻率測量的結(jié)果卻相差很大,究竟哪一個是正確的?仔細(xì)觀察我們會發(fā)現(xiàn)中觸發(fā)位置和觸發(fā)電平?jīng)]有對應(yīng)起來,而且采樣率只有250MS/s,中使用了20GS/s的采樣率,可以確定,顯示的波形欺騙了我們,這即是一例采樣率過低導(dǎo)致的混迭(Aliasing)給我們造成的假像。大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修

1.在連接儀器測試線前,應(yīng)先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間300s。其產(chǎn)生噪聲的大小與溫度、頻帶寬度△f成正比。高頻熱噪聲高頻熱噪聲是由于導(dǎo)電體內(nèi)部電子的無規(guī)則運動產(chǎn)生的。溫度越高,電子運動就越激烈。導(dǎo)體內(nèi)部電子的無規(guī)則運動會在其內(nèi)部形成很多微小的電流波動,因其是無序運動,故它的平均總電流為零,但當(dāng)它作為一個元件(或作為電路的一部分)被接入放大電路后,其內(nèi)部的電流就會被放大成為噪聲源,特別是對工作在高頻頻段內(nèi)的電路高頻熱噪聲影響尤甚。通常在工頻內(nèi),電路的熱噪聲與通頻帶成正比,通頻帶越寬,電路熱噪聲的影響就越大。大電流發(fā)生器 三相溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修

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