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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修
詳情介紹:

HNDL系列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試系統(tǒng)大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修
大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修
是青島華能遠(yuǎn)見(jiàn)有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率
50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。
則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括:高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器(進(jìn)口件)、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。電磁傳感器用于洗碗機(jī)中控制噴水臂的移動(dòng)。許多其他家電中也使用了先進(jìn)的傳感器。非接觸式檢測(cè)系統(tǒng),,用于溫度控制的微加工熱電偶紅外傳感器,它還可以用于炊具、頭發(fā)護(hù)理和烤面包機(jī)中。流量傳感器可用于電扇和真空吸塵器中空氣質(zhì)量的檢測(cè)。加速度和坡度傳感器可用在電奧斗中。智能多氣體傳感器(人造鼻)可用于自動(dòng)陪烤控制中。用于加熱和溫度控制方面的傳感器有:溫度傳感器和開關(guān)、壓力傳感器和開關(guān)、氣體和液體流量傳感器。

大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備,全自動(dòng)控制,式操作,簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng),工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù),抗干擾能力強(qiáng),輸出精度高,紋波系數(shù)小于0.2%,準(zhǔn)確度高于0.5%;。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可,無(wú)需人工監(jiān)控,僅需設(shè)定測(cè)試電流,省去手動(dòng)調(diào)壓,減小勞動(dòng)強(qiáng)度,提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí):B級(jí)

 大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修可選用IT8800系列高性能直流電子負(fù)載,設(shè)置負(fù)載工作在CV恒壓模式,且電壓設(shè)定值大于模擬蓄電池的電源的輸出電壓,避免消耗供電直流源輸出的電量。IT8800系列功率范圍150W-55kW,電壓/電流測(cè)量速度可達(dá)50kHz,分辨率可達(dá)0.1mV/0.01mA,滿足客戶高精度的測(cè)試需求;具有定電壓、定電流、定電阻、定功率四種操作模式,保護(hù)功能完善,內(nèi)置RS232/GPIB/USB通訊接口,滿足通訊需求。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓:0-20V.

4.電流精度 :各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào),精度高于0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值,精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過(guò)流、過(guò)壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判別。測(cè)時(shí)范圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修電感位移傳感器被廣泛應(yīng)用于微小位移量檢測(cè)中,但在一些工程中現(xiàn)有傳感器的測(cè)量精度和靈敏度達(dá)不到測(cè)量要求。針對(duì)這一問(wèn)題,對(duì)傳感器前段信號(hào)處理電路進(jìn)行改進(jìn),在傳感器上下線圈并聯(lián)電容形成LC電路,利用LC電路諧振效應(yīng)改善電路的性能,以提高信號(hào)源頭的靈敏度;采用Multisim軟件對(duì)半橋和全橋電路在并聯(lián)不同大小的電容后的性能進(jìn)行仿真,并用Matlab對(duì)生成的曲線進(jìn)行二乘擬合,比較得出使電路性能的電容值和并聯(lián)方法。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓,在將儀器后面電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān),等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖:

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后,注急停按鈕不要按下,直接按啟動(dòng)按鈕,即可通過(guò)點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后,都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界面如下圖:

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí),每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖:代數(shù)字存儲(chǔ)示波器(DSO,DigitalStorgeOscilloscope,如b)主要通過(guò)高速的ADC將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),然后存儲(chǔ)于內(nèi)存中,再由CPU運(yùn)算與繪制波形。采用這種結(jié)構(gòu)所設(shè)計(jì)的數(shù)字存儲(chǔ)示波器,其功能比模擬示波器有了很大的提升,波形存儲(chǔ)、波形運(yùn)算、自動(dòng)測(cè)量等等。模擬示波器的優(yōu)勢(shì)在于他的即時(shí)、快速和豐富表現(xiàn)信號(hào)的能力,這也是數(shù)字示波器的缺點(diǎn),原因在于CPU的運(yùn)算能力遠(yuǎn)不及信號(hào)的變化速度。大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修

1.在連接儀器測(cè)試線前,應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí),電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間300s。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝后測(cè)試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測(cè)試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對(duì)Wafer劃片槽(ScribeLine)測(cè)試鍵(TestKey)的測(cè)試,通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù),測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容,測(cè)完某條TestKey后,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測(cè)試完成。大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 5年保修

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