HNDL系列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試系統(tǒng)溫升大電流發(fā)生器 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升試驗(yàn)裝置 定制定做

是青島華能遠(yuǎn)見(jiàn)有限公司自主研制開(kāi)發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開(kāi)關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。一般來(lái)說(shuō)，時(shí)鐘頻率跑的越快，則CPU每秒所能完成的運(yùn)算次數(shù)就越多，性能自然更好，隨著時(shí)鐘頻率的增加，CPU就會(huì)變得越來(lái)越熱，這是CPU內(nèi)部CMOS管耗散功率加大的體現(xiàn)，過(guò)高的溫度會(huì)影響系統(tǒng)的運(yùn)行，所以有必要采取措施來(lái)“監(jiān)控”CPU的溫度，把它限制在一定溫度范圍內(nèi)，以確保CPU的可靠運(yùn)行。由于二極管制造工藝的性，我們可以利用二極管的伏安特性來(lái)測(cè)量CPU的溫度，它的伏安特性如下圖：，將PN結(jié)用外殼封裝起來(lái)，并加上電極引線就構(gòu)成了半導(dǎo)體二極管，簡(jiǎn)稱為二極管。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控制，式操作，簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無(wú)需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí)：B級(jí)

 平均功能是對(duì)采樣數(shù)據(jù)執(zhí)行平均處理，能直接支持平均處理的測(cè)量功能有：U、P、S、Q等值。平均處理包括指數(shù)平均和移動(dòng)平均兩種處理方式，下面介紹兩種方式的區(qū)別和應(yīng)用。我們來(lái)列一個(gè)表格：指數(shù)平均選擇指數(shù)平均法，用戶可設(shè)定衰減常數(shù)對(duì)電壓或電流有效值、有功功率的瞬時(shí)值（采樣數(shù)據(jù)）進(jìn)行指數(shù)平均，去除被測(cè)量的高頻成分。其中衰減常數(shù)可以手動(dòng)設(shè)置，衰減常數(shù)設(shè)置值越大測(cè)量值越穩(wěn)定，對(duì)輸入變化的響應(yīng)速度也就越慢，也就是說(shuō)測(cè)量延遲會(huì)相應(yīng)變長(zhǎng)。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開(kāi)口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過(guò)流、過(guò)壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開(kāi)、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判別。測(cè)時(shí)范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.Simplelink傳感器控制器是的16位處理單元(CPU)核心，在活動(dòng)模式、待機(jī)模式和啟動(dòng)耗能階段均只消耗極低功率。如圖2所示，該傳感器控制器包括模擬和數(shù)字外圍設(shè)備，它們專為實(shí)現(xiàn)超低功率而進(jìn)行了優(yōu)化。利用這些外圍設(shè)備和2MHz時(shí)鐘模式，使得該控制器非常適合感應(yīng)式測(cè)量應(yīng)用，從而實(shí)現(xiàn)超低功率：，基于感應(yīng)式測(cè)量原則，可以在100Hz時(shí)達(dá)到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情，請(qǐng)參閱流量表應(yīng)用示例，閱讀“采用CC13x2R無(wú)線MCU的單芯片流量表解決方案。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開(kāi)儀器側(cè)面空氣開(kāi)關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過(guò)點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界面如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：由于長(zhǎng)期使用及管道震動(dòng)等多因素引起浮子流量計(jì)傳感磁鋼、指針、配重、旋轉(zhuǎn)磁鋼等活動(dòng)部件松動(dòng)，造成誤差較大。解決方法：可先用手推指針的方式來(lái)驗(yàn)證。將指針按在RP位置，看輸出是否為4mA，流量顯示是否為0%，再依次按照刻度進(jìn)行驗(yàn)證。若發(fā)現(xiàn)不符，可對(duì)部件進(jìn)行位置調(diào)整。一般要求專業(yè)人員調(diào)整，否則會(huì)造成位置丟失，需返回廠家進(jìn)行校正。無(wú)電流輸出看接線是否正確。液晶是否有顯示，若有顯示無(wú)輸出，多為輸出管壞，需更換線路板。

1.在連接儀器測(cè)試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s?？煽毓铏z測(cè)方案電控系統(tǒng)長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行后，電發(fā)動(dòng)機(jī)會(huì)出現(xiàn)跳閘等故障。基于此，對(duì)可控硅性能好壞進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)于系統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對(duì)電氣設(shè)備的檢測(cè)設(shè)備及方法有萬(wàn)用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測(cè)導(dǎo)通電流以判斷可控硅導(dǎo)通情況。在實(shí)際生產(chǎn)中，僅采用萬(wàn)用表無(wú)法判斷可控硅的故障。下面對(duì)幾種檢測(cè)方法進(jìn)行對(duì)比，以得出可控硅檢測(cè)的方法。漏電儀檢測(cè)法（耐壓試驗(yàn)）采用大電流發(fā)生器（簡(jiǎn)稱升流器）對(duì)可控硅K兩極之間進(jìn)行漏電試驗(yàn)。