HNDL系列全自動大電流發(fā)生器測試系統(tǒng)大電流恒流源 直流開關(guān)試驗電源 大電流溫升測試儀 定制定做

是青島華能遠見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。在選擇照度計時，因為照度計使用的場所非常廣泛，運用的時機也常在不同的場合，所以可攜帶式體積小、重量輕為照度計的先決條件。HT-13系列照度計袖珍型便攜式設(shè)計，可以隨身攜帶，方便你在不同場所使用，31/2位數(shù)字液晶顯示屏，便于快速讀取讀數(shù)。照度計的良莠與否，和它的準(zhǔn)確度有的關(guān)系。以合理的價格買個準(zhǔn)確度較高的照度計是每個用戶的的選擇。照度計是一款手持式專業(yè)測量光度的數(shù)字照度計，符合CIE光譜響應(yīng)要求。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動控制，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機可實現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動試驗只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試電流，省去手動調(diào)壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 晶閘管又叫可控硅，是一種在晶體管基礎(chǔ)上發(fā)展起來的大功率半導(dǎo)體器件，主要并廣泛應(yīng)用于整流、逆變、調(diào)壓及開關(guān)等方面，對可控硅性能進行檢測，對于電控系統(tǒng)的日常維護、保證正常運轉(zhuǎn)具有十分重要的意義?？煽毓璺謫蜗蚩煽毓韬碗p向可控硅兩種，都是三個電極。單向可控硅有陰極（K）、陽極（A）、控制極（G）。雙向可控硅等效于兩只單項可控硅反向并聯(lián)而成，即其中一只單向硅陽極與另一只陰極相邊連，其引出端稱T2極，其中一只單向硅陰極與另一只陽極相連，其引出端稱T2極，剩下則為控制極。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)遠遠高于國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。并可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判別。測時范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.打開451的時間門測量功能，將中心頻率設(shè)置成f1，頻寬為希望測量的偏離f1的頻率偏移的兩倍，將時間門觸發(fā)信號設(shè)置為外部門控輸入，門寬度設(shè)置成T1，該數(shù)值必須小于跳頻源工作在f1頻點的駐留時間，此時451輸出的信號頻譜即為跳頻源工作在f1頻率時的雜散頻譜，利用差值頻標(biāo)功能即可獲得雜散數(shù)值。跳頻源輸出信號、觸發(fā)門控信號和時間門信號的時序關(guān)系圖給出了跳頻源輸出、觸發(fā)門控信號、時間門信號之間的時間關(guān)系圖。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān)，等待幾秒進入試驗選擇界面如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界面如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運行可自由設(shè)定運行時間。如下圖：其中EMI包括：CE（傳導(dǎo)干擾），RE（輻射干擾），PT(干擾功率測試)等等。EMS包括：ESD(靜電放電），RS（輻射耐受），EFT/B(快速脈沖耐受)，surge（雷擊），CS（傳導(dǎo)耐受）等。常見的擾源顯然，EMC設(shè)計的目的就是使所設(shè)計的電子設(shè)備或系統(tǒng)在預(yù)期的電磁環(huán)境中能夠?qū)崿F(xiàn)電磁兼容。換而言之,就是說設(shè)計的電子設(shè)備或系統(tǒng)必須能夠滿足EMC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的兩方面的能力。常見EMC測試項目電磁干擾（EMI）的原理EMI的產(chǎn)生原因形式的電磁干擾是影響電子設(shè)備兼容性的主要原因。

1.在連接儀器測試線前，應(yīng)先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。紅外熱像儀能對零度以上物體發(fā)出的熱輻射生成熱圖像。通過提供每一個像素的溫度測量值，研究人員可以以非接觸的方式對某一場景進行觀察和測溫。由于紅外熱像儀提供的數(shù)據(jù)比熱電偶或點溫儀要多，而且可以追蹤隨時間推移所發(fā)生的溫度變化，所以它們非常適合用于研究和工程設(shè)計項目。制冷型與非制冷型紅外探測器紅外探測器大體可分為兩類：一類是熱探測器，另一類是量子探測器。熱探測器，比如微測輻射熱計，會對射入的輻射能產(chǎn)生反應(yīng)，加熱像素，通過電阻的變化來反映出溫度的變化。