HN11C高壓開關(guān)綜合測(cè)試儀高壓開關(guān)動(dòng)特性測(cè)試儀 HN11C系列 安秒特性測(cè)試儀 定制定做
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開關(guān)、GIS接地刀閘開關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵御550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電干擾！模擬偏置模擬偏置，也稱為DC偏置，是一個(gè)非常有用的功能，大多數(shù)示波器都具有該功能。如果運(yùn)用得當(dāng)，可以避免小信號(hào)測(cè)試時(shí)垂直分辨率的丟失的問題。模擬偏置給輸入的信號(hào)加上一個(gè)直流偏置電壓，如果輸入信號(hào)超出了示波器ADC的測(cè)量范圍，加上偏置電壓之后，能將信號(hào)調(diào)節(jié)到示波器的范圍內(nèi)。超出范圍的信號(hào)通過(guò)模擬偏置將信號(hào)調(diào)節(jié)至示波器的測(cè)量范圍內(nèi)典型應(yīng)用：LVDS1）LVDS信號(hào)特征LVDS（低壓差分信號(hào)），如所示，兩組相位相反的差分信號(hào)，信號(hào)特征如下：峰峰值：350mV共模電壓偏置：1.2V高壓：1.2V+0.5*350mV=1.375V低壓：1.2V+0.5*350mV=1.025V該測(cè)的是PicoScope6404B示波器，4通道，500MHz，8位分辨率，信號(hào)是仿真的LVDS信號(hào)。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控制模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界面：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，并在面板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；并配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；由于感應(yīng)，便會(huì)吸引電子，并開啟溝道。如果浮柵中有電子的注時(shí)，即加大的管子的閾值電壓，溝道處于關(guān)閉狀態(tài)。這樣就達(dá)成了開關(guān)功能。如所示，這是EPROM的寫入過(guò)程，在漏極加高壓，電子從源極流向漏極溝道充分開啟。在高壓的作用下，電子的拉力加強(qiáng)，能量使電子的溫度極度上升，變?yōu)闊犭娮?hotelectron)。這種電子幾乎不受原子的振動(dòng)作用引起的散射，在受控制柵的施加的高壓時(shí)，熱電子使能躍過(guò)SiO2的勢(shì)壘，注入到浮柵中。

速度定義：提供了常用的開關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特別設(shè)置

U盤存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤，直接用上位機(jī)軟件打開。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書就能簡(jiǎn)單使用。提供緊湊的體積和模塊化架構(gòu)，在單個(gè)機(jī)箱中支持多達(dá)512個(gè)通道。提供寬泛的可編程驅(qū)動(dòng)/檢測(cè)電壓范圍，支持傳統(tǒng)應(yīng)用和當(dāng)前技術(shù)應(yīng)用。靈活的架構(gòu)，提供每個(gè)引腳的可編程性-化靈活性，適用于應(yīng)用。管理與這些數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功率要求和功耗是實(shí)現(xiàn)高可靠性的關(guān)鍵?，F(xiàn)代數(shù)字子系統(tǒng)采用兩個(gè)主要組件—高性能ASIC或FPGA，提供所有數(shù)字邏輯，定時(shí)和序列控制;和單片引腳電子（PE）器件，它們與數(shù)字邏輯接口，并為UUT或被測(cè)器件提供可編程電平（）。