HN300電纜故障測試儀 電力電纜故障測試儀 HN300系列 地下管線儀5年保修

 用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。OCP即可重新啟動輸出。輸出功率較低的電源與輸出功率較高的電源相比,其噪聲更低。那些用于測試LED陣列的電源,其輸出噪聲通常都小于350uVrms。E36312A三路輸出電源在所有三路輸出上均有20mA的量程，非常適于測量低電流。使用它的低量程測量小于20mA的電流時，我們可以獲得更高的分辨率和精度。技巧2表征不斷變動的功耗狀態(tài)許多設(shè)備都被設(shè)計為能夠在不同的時間使用不同的功耗。某些設(shè)備可在工作狀態(tài)與睡眠狀態(tài)之間切換功耗，從而延長電池的使用壽命。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

隨著電子技術(shù)的發(fā)展，器件的噪聲系數(shù)越來越低，放大器的動態(tài)范圍也越來越大，增益也大有提高，使得電路系統(tǒng)的靈敏度和選擇性以及線性度等主要技術(shù)指標都得到較好的解決。同時，隨著技術(shù)的不斷提高，對電路系統(tǒng)又提出了更高的要求，這就要求電路系統(tǒng)必須具有較低的相位噪聲，在現(xiàn)代技術(shù)中，相位噪聲已成為限制電路系統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對于提高電路系統(tǒng)性能起到重要作用。相位噪聲好壞對通訊系統(tǒng)有很大影響，尤其現(xiàn)代通訊系統(tǒng)中狀態(tài)很多，頻道又很密集，并且不斷的變換，所以對相位噪聲的要求也愈來愈高。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈沖將產(chǎn)生反射。測距主機將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。給各分管路打壓，檢測哪一路地暖盤管可能漏水自從FLIRONRPRO紅外熱像儀應運而生，一切都迎刃而解。整個檢測過程和要點主要概括為下面幾步：步，通過對地暖各分路進行打壓，判斷存在漏水的管道。在現(xiàn)場我們發(fā)現(xiàn)，路管道施加5公斤壓力后，在3分鐘內(nèi)只剩下1公斤壓力，屬于明顯的漏水可疑對象，而其他二路并無失壓情況。據(jù)此，我們初步判斷路地暖盤管存在漏水情況。得出結(jié)果后，接下來就需要使用FLIRONEPRO紅外熱像儀查找具體漏水點。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。確保數(shù)據(jù)傳輸**性、用戶友好性、可操作性以及高精度方面處于水平是奇石樂新型測試系統(tǒng)開發(fā)的一貫標準。滿足高載荷要求的乘用車測力車輪每一個奇石樂測量系統(tǒng)的核心都是高精度傳感器。新款RoaDynP109扭矩測量輪便是專為極高載荷下的高精度測量而研發(fā)的。從現(xiàn)代跨界車車到寬敞的SUV再到高性能汽車，都在該產(chǎn)品設(shè)計測試對象之列。憑借特的壓電技術(shù)，即使在高動態(tài)載荷下也能在車輛動力學、操縱性試驗和動力系統(tǒng)試驗過程中地測量到極小的扭矩信號。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈沖”，根據(jù)測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈沖寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測試中此項不做選擇。

另外，晶體管也可能產(chǎn)生相似的爆裂噪聲和閃爍噪聲，其產(chǎn)生機理與電阻中微粒的不連續(xù)性相近，也與晶體管的摻雜程度有關(guān)。半導體器件產(chǎn)生的散粒噪聲由于半導體PN結(jié)兩端勢壘區(qū)電壓的變化引起累積在此區(qū)域的電荷數(shù)量改變，從而顯現(xiàn)出電容效應。當外加正向電壓升高時，N區(qū)的電子和P區(qū)的空穴向耗盡區(qū)運動，相當于對電容充電。當正向電壓減小時，它又使電子和空穴遠離耗盡區(qū)，相當于電容放電。當外加反向電壓時，耗盡區(qū)的變化相反。當電流流經(jīng)勢壘區(qū)時，這種變化會引起流過勢壘區(qū)的電生微小波動，從而產(chǎn)生電流噪聲。