HN300電纜故障測試儀 電纜外護(hù)套故障測試儀 HN300系列 帶電電纜識(shí)別儀價(jià)格實(shí)惠

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。對(duì)于紅外探測器的工作原理你了解多少呢？本文將為大家解析非制冷紅外焦平面探測器技術(shù)原理及機(jī)芯介紹。非制冷紅外技術(shù)原理非制冷紅外探測器利用紅外輻射的熱效應(yīng)，由紅外吸收材料將紅外輻射能轉(zhuǎn)換成熱能，引起敏感元件溫度上升。敏感元件的某個(gè)物理參數(shù)隨之發(fā)生變化，再通過所設(shè)計(jì)的某種轉(zhuǎn)換機(jī)制轉(zhuǎn)換為電信號(hào)或可見光信號(hào)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)物體的探測。非制冷紅外焦平面探測器分類非制冷紅外焦平面探測器是熱成像系統(tǒng)的核心部件。以下介紹了非制冷紅外焦平面探測器的工作原理及微測輻射熱計(jì)、讀出電路、真空封裝三大技術(shù)模塊，了影響其性能的關(guān)鍵參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

當(dāng)選取的諧振回路器件滿足振蕩器起振條件時(shí)振蕩器開始工作，VCO內(nèi)的有源器件等效構(gòu)成的負(fù)電阻部分所提供的能量能夠滿足諧振回路所消耗的能量則振蕩電路的振蕩條件能夠得以維持，VCO能夠正常工作。然而，VCO實(shí)際的工作狀態(tài)絕非理想狀態(tài)，并不是設(shè)計(jì)時(shí)所假定的終端連接理想的50歐姆負(fù)載，因此其終端負(fù)載條件的變化會(huì)導(dǎo)致VCO出現(xiàn)輸出振蕩頻率發(fā)生變化的非線性現(xiàn)象，這就是頻率牽引，其表征參數(shù)為頻率牽引系數(shù)。從可以看出，從VCO輸出看去的阻抗變化會(huì)引起VCO的有源器件結(jié)上直流電壓的變化，也就是說，VCO輸出反射回來的信號(hào)功率能引起晶體管漏電流和偏置點(diǎn)的波動(dòng)，導(dǎo)致該雙極型晶體管集電極與基極之間的電壓（Vcb）發(fā)生變化，影響集電極與基極之間的電容（Ccb），從而通過影響整個(gè)回路的諧振狀態(tài)和條件導(dǎo)致振蕩頻率和相位噪聲的改變。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。判斷激光粒度儀的優(yōu)劣，主要看其以下幾個(gè)方面：粒度測量范圍粒度范圍寬，適合的應(yīng)用廣。不僅要看其儀器所報(bào)出的范圍，而是看超出主檢測器面積的小粒子散射0.5μm如何檢測。的途徑是全范圍直接檢測，這樣才能保證本底扣除的一致性。不同方法的混合測試，再用計(jì)算機(jī)擬合成一張圖譜，肯定帶來誤差。激光光源一般選用2mW激光器，功率太小則散射光能量低，造成靈敏度低；另外，氣體光源波長短，穩(wěn)定性優(yōu)于固體光源。檢測器因?yàn)榧す庋苌涔猸h(huán)半徑越大，光強(qiáng)越弱，極易造成小粒子信噪比降低而漏檢，所以對(duì)小粒子的分布檢測能體現(xiàn)儀器的好壞。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。老化測試一般的老化測試時(shí)對(duì)部分儀器儀表進(jìn)行長時(shí)間通電運(yùn)行，并測量其平均無故障工作時(shí)間，總結(jié)這些儀器儀表的故障特點(diǎn)，找出它們的共性問題加以解決。環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)一般根據(jù)儀器儀表的工作環(huán)境而確定具體的試驗(yàn)內(nèi)容，并按照規(guī)定的方法進(jìn)行試驗(yàn)。環(huán)境試驗(yàn)一般只對(duì)小部分產(chǎn)品進(jìn)行，常見的環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容和方法如下：。溫度試驗(yàn)用以檢查溫度環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性，它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測試中此項(xiàng)不做選擇。

與聯(lián)合電子設(shè)備工程委員會(huì)(JEDEC)的測試PCB不同的是，EVM能夠更確切地體現(xiàn)實(shí)際設(shè)計(jì)問題。而采用與3ATPS82130、2ATPS82140和1ATPS82150腳位兼容和腳位相同的設(shè)計(jì)方式則可以發(fā)揮更好的降額性能，從而減少電源設(shè)計(jì)人員所面臨的難題。即便在輸出達(dá)到5V時(shí)，TPS82140也可以在65°C的溫和溫度下**地提供完整的2A電流。所示，低電流TPS82150在高達(dá)95°C的溫度下仍能供應(yīng)完整的1A電流。