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HN300電纜故障測試儀 通信電纜故障綜合測試儀 HN300系列 一體化交直流高壓發(fā)生器現(xiàn)貨供應
用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障,包括:開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面,子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示,全中文操作軟件和使用界面,子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。otdr的測量原理光脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖驅(qū)動半導體激光器而發(fā)出的測試光脈沖進入光纖沿途返回到入射端的光。就其物理原因包括兩種:一種是由于光纖折射率的不匹配或不連續(xù)性而產(chǎn)生的菲涅爾反射;另一種是由于光纖芯折射率,微觀的不均勻而引起的瑞利散射。瑞利散射光的強弱與通過該處的光功率成正比。而菲涅爾反射又與光纖的衰耗有直接關系,其強弱也就反映了光纖各點的衰耗大小。由于散射是向四面八方的,因此這些反射光總有一部分傳輸?shù)捷斎攵恕?/span>
技術參數(shù)
1. 采樣方法:低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法
2. 采樣速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脈沖寬度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速設置:交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定
5. 沖擊高壓:35kV及以下
6. 測試距離:<60km,盲區(qū)≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 測試精度:1m
9. 顯示方式:工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏
另外一個必須注意的是要檢查網(wǎng)分的源輸出功率,避免損壞電子校準件或者讓電子校準件過載。我們將源輸出功率調(diào)整為-15dBm。把電子校準件的B端口連接到E5063A的端口1,電子校準件的A端口連接到SMA線纜的一端,注意要使用轉(zhuǎn)矩扳手擰緊并開始校準。校準過程僅需幾秒鐘。Step2開始測量把被測件連接到E5063A的端口1,以及SMA線纜的一端。(SMA線纜的另外一端接的是E5063A的端口2)進行S11端口1反射測量。
四、工作原理
本產(chǎn)品采用的是時域反射(TDR)原理,即對電纜發(fā)射一電脈沖,電脈沖將在電纜中勻速傳輸,當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方(故障點),電脈沖將產(chǎn)生反射。測距主機將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來,通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。
① 開關按鍵:按下自鎖接通電源,再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時,屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。EMC設計系統(tǒng)主站和從站電路板的設計對系統(tǒng)的EMC至關重要,而一個電路板的電磁輻射能力和接收能力往往是一致的。在提高電路板抗干擾能力的同時,也了電路板的電磁輻射。PCB板的EMC設計主要因素有以下幾點:元器件選擇和布局選擇EMC性能好的元器件,并盡量選擇表面貼裝的封裝形式。器件合理布局,把相互有關的器件盡量放得靠近些,使各部件之間的引線盡量短。特別是微控制器和CAN控制器的時鐘源晶體一定按規(guī)定放置,否則會不起振。
② 充電端口:用于連接充電器,給電池充電。
③ 中值旋鈕:順時針旋動中值向上走動;逆時針旋動中值向下走動。(需采樣刷新才有變化)大;逆時針旋動幅度減小。(需采樣刷新才有變化)
⑤ 采樣端口:四芯座,用于連接采樣線。而就技術方案而言,LoRa和NB-IOT有共同點,也各有特點及缺點:LoRa優(yōu)勢:相比于NB-IoT,LoRa基于Sub-GHz的頻段使其更易以較低功耗遠距離通信,可以使用電池供電或者其他能量收集的方式供電;LoRa信號的波長較長決定了它的穿透力與避障能力;大大的改善了接收的靈敏度,超過-148dBm的接收靈敏度使其可視通信距離可達15公里;降低了功耗,其接收電流僅14mA,待機電流為1.7mA,這大大延遲了電池的使用壽命;基于終端和集中器/網(wǎng)關的系統(tǒng)可以支持測距和。
⑥ 觸摸式彩色液晶屏:詳見“工作界面介紹”。
按“ ”鍵,彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括:“低壓脈沖”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈沖”,根據(jù)測試需要,可選擇相應的采樣方式,再按“采樣方式”鍵退出。
按“ ”鍵,彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項,分別為:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬,按對應的子菜單鍵可以對脈沖寬度進行選擇,儀器開機默認0.2μs,再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意:在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。
本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲測量技術。RF抗干擾能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下,RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。從而產(chǎn)生了一個標準化、結構化的測試方法,使用這種方法能夠得到在質(zhì)量中可重復的測試結果。這樣的測試結果有助于IC選型,從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路??梢詫⒈粶y器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩,以測試其RF敏感度。為了得到一個的、具有可重復性的測試結果,需要采用一種固定的測量方法,在可重復的RF場內(nèi)測試DUT。