HN300電纜故障測試儀 多脈沖電纜故障測試儀 HN300系列 輸電線路參數(shù)測試儀生產廠家

 用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。具有省電、性能穩(wěn)定、體積小、承載能力大，比一般電磁繼電器性能優(yōu)越的特點。根據(jù)繼電器的型號不同，可以是交流電壓，也可以是直流電壓。下面我們主要介紹一款需要直流電壓供電的磁保持繼電器的測試方法。IT64系列LIST功能IT64系列是四象限電源，具有l(wèi)ist功能，可按照程序所編的電壓電流值輸出。單通道輸出功率15W，電壓可達±6V，電流±1A，雙極性雙范圍輸出。LIST功能實測案例以下是測試要求：磁保持繼電器的老化測試，就是重復讓產品斷開和閉合，進行老化測試。

技術參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

串聯(lián)單點接地的方式簡單，但是存在共同地線的原因，導致存在公共地線阻抗，如果此時串聯(lián)在一起的是功率相差很大的電路，那么互相干擾就非常嚴重。并聯(lián)單點接地的方式可以避免公共地線耦合的因素，但是每部分電路都需要引地線到接地點上，需要的地線就過多，不實用。所以，在實際應用時，可以采用串聯(lián)和并聯(lián)混合的單點接地方式。在畫PCB板時，把互相不易干擾的電路放一層，把互相容易發(fā)生干擾的電路放不同層，再把不同層的地并聯(lián)接地。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈沖將產生反射。測距主機將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。環(huán)境及背景輻射的影響在進行戶外電力設備紅外檢測時，檢測儀器接收的紅外輻射除了包括被檢設備相應部位自身發(fā)射的輻射以外，還會包括設備其它部位和背景的反射，以及直接射入太陽輻射。這些輻射都將對設備待測部位的溫度造成干擾，對故障檢測帶來誤差。為了減少環(huán)境與背景輻射的影響，對戶外電氣設備現(xiàn)場紅外檢測時，盡可能選擇在陰天或者在日落傍晚無光照時間進行。這樣可以防止直接入射、反射和散射的太陽輻射影響;對戶內設備可以采用關掉照明燈，以及避開其它輻射的影響。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。TEMCELL一般只找方值，使測試結果對擺放的位置比較敏感。另外，還有一種測試工具較箱，有的設計公司用來對天線進行有源測試，這種方法很不可行。一方面由于測試距離太近，另一方面由于沒有足夠的吸波材料，外部干擾對天線的測試影響比較大，這樣導致測試結果對位置比較敏感，稍微改變一下位置測試結果就有比較大的改變，因此這種測試方法對天線的性能沒有多少的參考意義。用耦合測試板測試天線性能在生產過程中為了保證產品的生產品質，往往要進行天線的耦合測試。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈沖”，根據(jù)測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈沖寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

而基于成像光度測量燈具光強分布的研究由于更加復雜，精度難以提高，目前仍處于研究階段。燈具的分布光度測量是燈具設計和照明設計中質量控制的重要環(huán)節(jié)，尤其是隨著LED等新光源和新興照明技術的發(fā)展，對燈具分布光度測量提出了新的挑戰(zhàn)。因此我們根據(jù)目前發(fā)展狀況及需求，進行基于成像光度法的LED光強分布測試的分布光度計研制。目前國內燈具市場產品質量良莠不齊，每年有大量新款燈具涌入市場。其實際照明效果的評估往往得不到有效評估。