HN300電纜故障測(cè)試儀 高架電纜故障測(cè)試儀 HN300系列 電力電纜故障測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。晶振，是電路中重要的電子元件，控制著系統(tǒng)運(yùn)行的節(jié)拍。基于不同的應(yīng)用場(chǎng)景，晶振有多種類(lèi)型，無(wú)源晶振是其中價(jià)格便宜而又應(yīng)用廣泛的一種。在使用示波器測(cè)量無(wú)源晶振輸出頻率時(shí)，常常會(huì)發(fā)現(xiàn)晶振有輸出無(wú)信號(hào)、晶振不起振等異常情況。本文就此情況略談一二。無(wú)源晶振簡(jiǎn)介無(wú)源晶振，準(zhǔn)確來(lái)說(shuō)應(yīng)叫Crystal（晶體），有源晶振則叫Oscillator（振蕩器）。無(wú)源晶振是在石英晶片的兩端鍍上電極而成，其兩管腳是無(wú)極性的。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

但設(shè)備較為笨重，攜帶、安裝不方便、且測(cè)量易受到環(huán)境因素的影響。此外，鋼弦式測(cè)量?jī)x的調(diào)試時(shí)間較長(zhǎng)，準(zhǔn)備工作需要花較長(zhǎng)時(shí)間，不適合做快速測(cè)量;另外鋼弦式測(cè)試儀重量、尺寸較大，安裝后易對(duì)構(gòu)件的工作狀態(tài)和應(yīng)力分布造成一定的影響，所以不適合測(cè)量較細(xì)的軸。光柵法軸功率測(cè)試方法光柵式軸功率測(cè)試由兩個(gè)光電碼盤(pán)、兩個(gè)光電傳感器、控制器組成，光電碼盤(pán)由兩個(gè)半圓環(huán)拼接而成，電傳感器安裝在固定的支架上，保證兩個(gè)光電傳感器與被測(cè)軸的軸心線在同一個(gè)平面上。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。采礦業(yè)中，產(chǎn)生的有毒化學(xué)物品，一旦出現(xiàn)泄漏是很危險(xiǎn)的事，需要借助靈敏的檢測(cè)工具，有效預(yù)防事故的發(fā)生。傳統(tǒng)的監(jiān)控系統(tǒng)在及早檢測(cè)少量泄漏方面顯得非常吃力。有鑒于此，加拿大技術(shù)專(zhuān)家IntelliView近開(kāi)發(fā)出用于監(jiān)控地上設(shè)施的DCAM?雙攝像頭解決方案。IntelliView利用FLIRA65熱像儀，為金礦開(kāi)采行業(yè)打造了一款根據(jù)溫度和發(fā)射率差異發(fā)現(xiàn)表面液體泄漏的先進(jìn)解決方案。液體泄漏檢測(cè)“借助標(biāo)準(zhǔn)的泄漏檢測(cè)技術(shù)，如壓力傳感器或大量計(jì)算，很難在早期就檢測(cè)到少量泄漏，這主要是泄漏規(guī)模較小的緣故。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。像ResearchIR一樣，F(xiàn)LIRResearchStudio?允許您定制工作區(qū)，但是以一種全新的方式進(jìn)行。我們可以選擇一個(gè)布局，此布局可以只有一個(gè)窗格或多達(dá)4個(gè)不同的窗格，然后我們可以將實(shí)時(shí)碼流從任何連接的攝像機(jī)和任何記錄文件移動(dòng)到這些不同的窗格中。我們甚至可以將多個(gè)相同類(lèi)型的內(nèi)容放在同一個(gè)窗格中，從而在窗格中添加了深度。當(dāng)我們添加越來(lái)越多的圖片、錄像、實(shí)時(shí)碼流和圖標(biāo)，有一個(gè)布局助手，幫助您選擇在哪里放置一切。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

工程師用四通道在線編程器P8-ISP對(duì)客戶樣機(jī)編程時(shí)，發(fā)現(xiàn)現(xiàn)象確如客戶所說(shuō)的一致。憑著豐富的編程調(diào)試經(jīng)驗(yàn)，我們的工程師將問(wèn)題為芯片被誤操作，導(dǎo)致被加密，查閱芯片技術(shù)手冊(cè)后將根源鎖定到2個(gè)寄存器上。為了解決這個(gè)問(wèn)題，工程師將P8-ISP的時(shí)序代碼作相應(yīng)的修改，在執(zhí)行擦除、編程操作之前，將2個(gè)寄存器的置位順序做了調(diào)整，使MCU處于解密狀態(tài)，確保芯片在編程過(guò)程中不會(huì)被誤加密。采用更新好時(shí)序的P8-ISP來(lái)燒寫(xiě)MCU后，客戶的汽車(chē)電子標(biāo)簽(OBU)燒片效率和良品率都有了明顯提高，百萬(wàn)套OBU量產(chǎn)也不再是難事。