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HN300電纜故障測試儀 電纜外護(hù)套故障測試儀 HN300系列 高壓電橋測距儀30年經(jīng)驗
用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障,包括:開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面,子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機(jī)互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示,全中文操作軟件和使用界面,子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機(jī)互動。否則,有可能造成光纜打滾折斷纖芯。分纖將光纖穿過熱縮管。將不同束管,不同顏色的光纖分開,穿過熱縮管。剝?nèi)ネ扛矊拥墓饫w很脆弱,使用熱縮管,可以保護(hù)光纖熔接頭。打開古河S176熔接機(jī)電源,采用預(yù)置的42種程式進(jìn)行熔接,并在使用中和使用后及時去除熔接機(jī)中的灰塵,特別是夾具,各鏡面和V型槽內(nèi)的粉塵和光纖碎未。CATV使用的光纖有常規(guī)型單模光纖和色散位移單模光纖,工作波長也有1310nm和1550nm兩種。
技術(shù)參數(shù)
1. 采樣方法:低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法
2. 采樣速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脈沖寬度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速設(shè)置:交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定
5. 沖擊高壓:35kV及以下
6. 測試距離:<60km,盲區(qū)≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 測試精度:1m
9. 顯示方式:工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏
上升和下降時間決定脈沖行為,因此也決定著雕刻速度?;旌蠚怏w中的氮會降低脈沖頻率至1kHz左右。這對于過去的很多應(yīng)用已經(jīng)足夠,但對于未來的需求來說是不夠的。典型的激光功率和時間關(guān)系圖顯示出±5~1%的偏差值。這不適合控制3D雕刻材料。被測試的激光器的激光指向穩(wěn)定性出奇的好,這對于聲光調(diào)制器的使用(對入射角非常敏感)將起著直接的影響。在接近聲光調(diào)制器的功率極限時,鍺晶體對的激光場模式非常敏感。
四、工作原理
本產(chǎn)品采用的是時域反射(TDR)原理,即對電纜發(fā)射一電脈沖,電脈沖將在電纜中勻速傳輸,當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方(故障點(diǎn)),電脈沖將產(chǎn)生反射。測距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來,通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。
① 開關(guān)按鍵:按下自鎖接通電源,再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無任何操作時,屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。先測試出可控硅的峰值電壓,將電線正負(fù)極連接至K兩極,接地線接至室內(nèi)主接地上,逐漸升壓,測試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測試后,逐漸升壓,觀測漏電流,當(dāng)數(shù)值超過其額定峰值電壓后,可控硅被擊穿,但采用此方法可能會破壞其PN結(jié),并且只能測試其是否導(dǎo)通,而不能測試其導(dǎo)通是否良好,故不再采用此法進(jìn)行測試。搖表測試法用搖表對可控硅進(jìn)行測量,參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控硅,改變搖表操作方法,即要對搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控制,兩筆端鏈接K極對其進(jìn)行測試。
② 充電端口:用于連接充電器,給電池充電。
③ 中值旋鈕:順時針旋動中值向上走動;逆時針旋動中值向下走動。(需采樣刷新才有變化)大;逆時針旋動幅度減小。(需采樣刷新才有變化)
⑤ 采樣端口:四芯座,用于連接采樣線。超級電容在電動車領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景,將是未來電動車發(fā)展的重要方向之一。超級電容的機(jī)理與特點(diǎn)超級電容是近期發(fā)展起來的一種新型儲能元件,是一種具有超級儲電能力、可提供強(qiáng)大脈動功率的物理二次電源,它與常規(guī)電容器不同,其容量可達(dá)數(shù)萬法。超級電容按儲能機(jī)理主要分為三類:由碳電極和電解液界面上電荷分離產(chǎn)生的雙電層電容;采用金屬氧化物作為電極,在電極表面和體相發(fā)生氧化還原反應(yīng)而產(chǎn)生可逆化學(xué)吸附的法拉第電容;由導(dǎo)電聚合物作為電極而發(fā)生氧化還原反應(yīng)的電容。
⑥ 觸摸式彩色液晶屏:詳見“工作界面介紹”。
按“ ”鍵,彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括:“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”,根據(jù)測試需要,可選擇相應(yīng)的采樣方式,再按“采樣方式”鍵退出。
按“ ”鍵,彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項,分別為:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬,按對應(yīng)的子菜單鍵可以對脈沖寬度進(jìn)行選擇,儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs,再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意:在高壓閃絡(luò)法測試中此項不做選擇。
當(dāng)總線變?yōu)榭臻e時,若RXD引腳輸出低電平,則可能導(dǎo)致MCU接收到錯誤數(shù)據(jù)或MCU在正常數(shù)據(jù)后誤接收1個000。RSM485PCHT門限電平數(shù)據(jù)發(fā)生了什么變化?如所示,1在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內(nèi)時輸出高電平,2在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內(nèi)時輸出低電平,可以看出,2可能導(dǎo)致MCU接收到錯誤的數(shù)據(jù),并且在數(shù)據(jù)后誤接收到1個000數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)后多000如所示,若總線上持續(xù)存在數(shù)據(jù)信號或連續(xù)發(fā)送多個字節(jié)數(shù)據(jù),在數(shù)據(jù)之間存在的空閑狀態(tài)可能會被2識別為1個起始位,從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)連續(xù)錯誤。