HN300電纜故障測(cè)試儀 多脈沖電纜故障測(cè)試儀 HN300系列 管線探測(cè)儀生產(chǎn)廠家

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)使用的儀器，使用一定時(shí)期后，將滿足產(chǎn)品老化，老化的試驗(yàn)和環(huán)境試驗(yàn)，它可以檢測(cè)早期文書的一個(gè)潛在故障，準(zhǔn)備的解決方案和解決方案，尤其是可以發(fā)現(xiàn)的常見(jiàn)故障，所以相同的儀器設(shè)備早期通過(guò)修改電路和方法恢復(fù)，有助于提高耐久性和可靠性的工具。老化測(cè)試一般的老化測(cè)試時(shí)對(duì)部分儀器儀表進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間通電運(yùn)行，并測(cè)量其平均無(wú)故障工作時(shí)間，總結(jié)這些儀器儀表的故障特點(diǎn)，找出它們的共性問(wèn)題加以解決。環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)一般根據(jù)儀器儀表的工作環(huán)境而確定具體的試驗(yàn)內(nèi)容，并按照規(guī)定的方法進(jìn)行試驗(yàn)。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

不過(guò)，CCD元件的制造成本高，在高感光度下的表現(xiàn)不太好，而且功耗較大。CMOS的色彩飽和度和質(zhì)感則略差于CCD，但處理芯片可以彌補(bǔ)這些差距。重要的是，CMOS具備硬件降噪機(jī)制，在高感光度下的表現(xiàn)要好于CCD，此外，它的讀取速度也更快。這些特性特別適合性能較高的單反相機(jī)，因此目前市場(chǎng)中常見(jiàn)的單反數(shù)碼相機(jī)幾乎都采用了CMOS傳感器。這些裝備了CMOS傳感器的數(shù)碼相機(jī)甚至具備了拍攝全高清（FullHD）的能力，這是裝備了CCD的數(shù)碼相機(jī)目前無(wú)法做到的。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。對(duì)有源天線陣列進(jìn)行校準(zhǔn)需要很長(zhǎng)的生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間。大型陣列可能包含成百上千個(gè)陣元，有必要通過(guò)表征這些陣元間的相位和增益關(guān)系，以確保精密的波束賦形。而且，進(jìn)行陣元調(diào)整所需的測(cè)試時(shí)間會(huì)隨著陣元數(shù)量的增加而大幅增長(zhǎng)。使用多個(gè)相參測(cè)量通道能夠有效地縮短測(cè)試時(shí)間?，F(xiàn)在通常使用一臺(tái)多端口網(wǎng)絡(luò)儀在天線上執(zhí)行相對(duì)增益和相位測(cè)量，一般是通過(guò)開關(guān)矩陣對(duì)所有的天線端口或通道執(zhí)行這種測(cè)量。這會(huì)產(chǎn)生很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間，尤其是對(duì)包含成百上千陣元的陣列。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。目前常見(jiàn)的電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)有兩種：測(cè)功機(jī)系統(tǒng)；系統(tǒng)包括前段供電測(cè)試直流電源（電池模擬器），測(cè)功機(jī)，變頻器，測(cè)試所需儀器儀表等。電機(jī)對(duì)拖測(cè)試系統(tǒng)；系統(tǒng)包括前段供電測(cè)試直流電源（電池模擬器），陪測(cè)電機(jī)電控，測(cè)試所需儀器儀表等。測(cè)試裝置中電機(jī)控制器電源部分可采用雙象限直流電源或直流電源加直流負(fù)載的形式。測(cè)電源部分的性能及可靠性直接決定了系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)?zāi)芰?因此對(duì)電源有如下要求：一電源輸出具有快速的動(dòng)態(tài)響應(yīng)特性（突加載，突減載，充放電轉(zhuǎn)換等），艾德克斯IT6500系列電壓上升時(shí)間高達(dá)3ms，可以滿足工況要求。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

如今的電信系統(tǒng)、數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)、復(fù)雜計(jì)算機(jī)系統(tǒng)等都依賴于高速串行數(shù)據(jù)傳輸，而前沿?cái)?shù)字設(shè)計(jì)師們往往將系統(tǒng)能夠達(dá)到的性能極限施壓于銅材。隨著超過(guò)1Gbps的串行鏈路的增多，信號(hào)完整性問(wèn)題開始暴露出來(lái)，針對(duì)這類高速通道的物理層進(jìn)行信號(hào)完整性優(yōu)化，會(huì)收到驚人的效果。如果采用合適的設(shè)計(jì)工具和設(shè)計(jì)方法，我們就能清楚地了解信號(hào)傳輸?shù)幕驹?。為了打破兆兆位的界限，網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)和路由器中采用了一種先進(jìn)的背板技術(shù)。這一成就部分得益于物理層元件中復(fù)雜的設(shè)計(jì)技術(shù)。