HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
雷電沖擊電壓發(fā)生器 HNCJ系列 CVT諧振耐壓裝置試驗方法產品簡介：

沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設備等試品進行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質沖擊擊穿、放電等試驗中。

適用范圍：變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標準雷電沖擊，雷電截斷波，操作沖擊及用戶要求的非標準沖擊波的各類沖擊電壓試驗。一套設備就可產生多種試驗波形（標準的和非標準的波形，用戶提出來的波形）。 適用領域：質檢鑒定計量檢測監(jiān)督機構，電力設備制造廠，鐵路通信，航天和航天飛行器,科研單位，大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗。兩點之前近刻度的舍入誤差就是量化噪聲的物理表現(xiàn)形式。所有ADC都會對連接至其輸入端的電壓執(zhí)行這種操作。它們會進行信號檢測并將實際電壓近似為有限數(shù)量的步長。ADC中所用到的步長數(shù)量決定分辨率的大小。高精度Δ-ΣADC的噪聲成形特性通常會限度地降低熱噪聲和閃爍噪聲。對于16位或16位以下的器件而言，熱噪聲遠遠小于因信號近似而產生的誤差。在此類ADC中，大家會發(fā)現(xiàn)在低數(shù)據速率下數(shù)字代碼幾乎沒有發(fā)生變化。

產品別稱：沖擊電壓發(fā)生器，雷電沖擊電壓發(fā)生器試驗裝置，雷電沖擊電流發(fā)生器，電壓發(fā)生器試驗裝置

FLIR紅外相機可以在現(xiàn)場抓取高質量的紅外熱圖，并且存貯在后臺的計算機中，對于每一模的溫度都做保存，并且通過后臺的軟件作出統(tǒng)計，對于生產的工藝作出的控制，大大提高壓鑄廠家的工藝穩(wěn)定性和數(shù)據追溯能力。上圖是一個現(xiàn)場的紅外熱像監(jiān)控系統(tǒng)，通過安裝在機械臂上的紅外相機（安裝在保護殼中），紅外相機根據壓鑄系統(tǒng)中的PLC發(fā)出的命令抓圖，并且傳輸?shù)胶笈_計算機中，做進一步的溫度分布。借助FLIR在線紅外相機強大的功能以及穩(wěn)定性，這套系統(tǒng)已經在大量客戶現(xiàn)場穩(wěn)定工作了。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產品特征

1、回路電感小，并采取帶阻濾波措施，在大電容量負載下能產生標準沖擊波，負載能力大。

2、電壓利用系數(shù)高，雷電波和操作波分別不低于85%和80%。

3、調波方便，操作簡單，同步性能好，動作可靠。在帶寬500MHz以下的示波器，一般標配是1倍衰減或10倍衰減的無源，某些的衰減比可手動選擇。不同衰減比的在帶寬、輸入電阻、輸入電容上面都有差異：圖2ZP1025SA1倍、10倍衰減時的參數(shù)差異可見的輸入電容，比晶體手冊的負載電容要大。的介入，必定大大影響到原已參數(shù)優(yōu)化好的電路，從而嚴重影響晶體電路的起振。兩害相權取其輕，測量無源晶振時應優(yōu)先選用10倍衰減。若10倍衰減的寄生參數(shù)還是過大，可以考慮選用有源高壓差分，其負載參數(shù)優(yōu)化得非常小，如Lecroy的ZP1000，輸入阻抗可達0.9p1M歐姆。雷電沖擊電壓發(fā)生器 HNCJ系列 CVT諧振耐壓裝置試驗方法

4、采用恒流充電自動控制技術，自動化程度高，抗干擾能力強。