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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:整組蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障查找儀原理用途

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。整組蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障查找儀原理用途
詳情介紹:

HN1015A蓄電池充放電,活化測(cè)試儀 整組蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障查找儀原理用途

整組蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障查找儀原理用途

本儀器是針對(duì)整組蓄電池系列測(cè)試,不同規(guī)格型號(hào)對(duì)整組要求不同,具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V(根據(jù)具體指標(biāo)定)的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測(cè)試的儀器。

測(cè)試步驟介紹對(duì)TBC試件進(jìn)行早期無(wú)損檢測(cè)具有重大意義。實(shí)驗(yàn)原理根據(jù)Grzegorz采用盲孔缺陷代替脫粘缺陷進(jìn)行的方法,在對(duì)TBC脫粘缺陷的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)中,通常在TBC試件的金屬基底上制作盲孔缺陷來(lái)模擬真實(shí)的脫粘缺陷。本文的線激光掃描熱成像方法分為粗掃描階段和細(xì)掃描階段。在粗掃描階段的檢測(cè)原理中,LLFST系統(tǒng)能夠在TBC試件表面匯聚出激光點(diǎn),控制激光點(diǎn)以直線方向高速移動(dòng)。當(dāng)掃描速度足夠快且做線狀移動(dòng)時(shí),激光點(diǎn)可以看作是線激光。

1.4.1在線監(jiān)測(cè)測(cè)試:

步:連接單體電壓采集器。(詳見(jiàn)章節(jié)2.4)

步:把整組電壓測(cè)試線連接到電池組兩端。(詳見(jiàn)章節(jié)2.5)

步:插入電源,主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第四步:進(jìn)入在線監(jiān)測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.1)

第五步:“確定”開(kāi)始測(cè)試。

1.4.2 放電測(cè)試:整組蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障查找儀原理用途如果沒(méi)有對(duì)這些免維護(hù)蓄電池進(jìn)行定期檢查,非常容易出現(xiàn)劣化失效的情況。輕則漏液腐蝕,內(nèi)部短路,重則將造成局部起火,引起火災(zāi)。誤區(qū)二:維護(hù)蓄電池只需要監(jiān)控電壓就可以由于成本的因素,一些工程師往往使用萬(wàn)用表測(cè)試電池的浮充電壓,目前市面上的在線系統(tǒng)也通過(guò)電池的電壓來(lái)監(jiān)控和評(píng)估后備電池或儲(chǔ)能電池的健康狀態(tài)。但是浮充電壓只能反映充電器是否正常工作,卻不能反映電池的健康狀況。當(dāng)電池容量下降時(shí),浮充電壓由于受UPS充電機(jī)的控制,很可能仍然保持虛高。

步:連接單體電壓采集器(詳見(jiàn)章節(jié)2.4)。純負(fù)載不具此功能

步:放電開(kāi)關(guān),撥到分的位置(防止放電電纜反接,損壞儀器;反接告警提示)。

步:把放電線一端連到主機(jī),另一端連到電池組兩端。(注意紅正黑負(fù))。接反會(huì)告警提示。(詳見(jiàn)章節(jié)2.5)

第四步:把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步:插入電源(電池組供電不用接AC220V電源,直接將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置),主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第六步:進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.2)

第七步:將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置(電池組供電省略此步驟)。

第八步:“確定”開(kāi)始測(cè)試。

1.4.3容量快測(cè)(選配功能)整組蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障查找儀原理用途于是,為了進(jìn)一步減小解決方案的尺寸,有許多多輸出IC可供選擇。這些IC通常包括集成的MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET),同時(shí)至少要求配置有外部組件。而且,單就這些IC而言,其成本或許更為昂貴。通過(guò)減少生產(chǎn)過(guò)程中必須安裝到位的外部組件數(shù)量所獲得的收益,往往會(huì)抵消前期付出的高昂成本。采用何種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)呢?在如所示的實(shí)際應(yīng)用中,由于空間的限制,所以LDO將成為我們的。然而,由于功耗和效率的限制,實(shí)際情況并非總是如此。

步:連接單體電壓采集器(詳見(jiàn)章節(jié)2.4)。

步:放電開(kāi)關(guān),撥到分的位置(防止放電電纜反接,損壞儀器;反接告警提示)。

步:把放電線一端連到主機(jī),另一端連到電池組兩端。(注意紅正黑負(fù))。接反會(huì)告警提示。(詳見(jiàn)章節(jié)2.5)

第四步:把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步:插入電源,主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第六步:進(jìn)入容量快測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.3)

第七步:將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置。

第八步:“確定”開(kāi)始測(cè)試。TestCenter具有完全自主的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。2012年,TestCenter入選國(guó)防科技工業(yè)百項(xiàng)先進(jìn)工業(yè)技術(shù)研究推廣應(yīng)用工程。如所示,為T(mén)estercenter的界面,TestCenter可以在多個(gè)測(cè)試領(lǐng)域中被應(yīng)用,包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品及裝備的電路板級(jí)、模塊級(jí)、系統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試與故障診斷。Testcenter界面IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛,為了規(guī)范測(cè)試診斷過(guò)程和實(shí)現(xiàn)診斷知識(shí)的共享,IEEE制訂了人工智能應(yīng)用于系統(tǒng)測(cè)試與診斷領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)即IEEE1232標(biāo)準(zhǔn),也稱作AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)。整組蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障查找儀原理用途整組蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障查找儀原理用途

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