HN1015A蓄電池充放電，活化測試儀 單體蓄電池充電放電測試儀 HN1016B 直流接地故障查找儀試驗(yàn)方法

本儀器是針對整組蓄電池系列測試，不同規(guī)格型號對整組要求不同，具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V（根據(jù)具體指標(biāo)定）的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測試的儀器。

測試步驟介紹由于該設(shè)備已經(jīng)由移動運(yùn)營商在現(xiàn)場部署，提供一種易于使用、高性能的解決方案對于維持客戶和利用現(xiàn)有設(shè)備是至關(guān)重要的。使用5G射頻下變頻器雖然5G無線將很好地?cái)U(kuò)展到高帶寬，但是現(xiàn)有的頻譜設(shè)備是為使用低于6GHz的信號的3G/4G/LTE網(wǎng)絡(luò)而設(shè)計(jì)的。這意味著RF設(shè)備制造商留下了一個選擇——建造新設(shè)備，或者用RF下變頻器延長現(xiàn)有硬件的壽命。從中短期來看，與射頻下變頻器集成比構(gòu)建新的解決方案具有許多優(yōu)勢。

1.4.1在線監(jiān)測測試：

步：連接單體電壓采集器。（詳見章節(jié)2.4）

步：把整組電壓測試線連接到電池組兩端。（詳見章節(jié)2.5）

步：插入電源，主機(jī)開機(jī)。

第四步：進(jìn)入在線監(jiān)測參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.1）

第五步：“確定”開始測試。

1.4.2 放電測試：從少量到大量泄漏泄漏的嚴(yán)重程度由氣體流速表示。氣流由Hi-flowSampler而非熱像儀測得。氣體流速小于.1立方英尺/分鐘(cfm)被視為輕度泄漏，.1至.5cfm被視為中度泄漏，大于.5cfm被視為重度泄漏。檢測人員共發(fā)現(xiàn)1,977處泄漏。其中65%，或者說1,291處泄漏，為輕度泄漏。其中32%，或者說63處泄漏，為中度泄漏。另外3%，或者說56處泄漏，為重度泄漏。發(fā)現(xiàn)的泄漏僅為.1cfm，而泄漏達(dá)7.85cfm。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節(jié)2.4）。純負(fù)載不具此功能

步：放電開關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會告警提示。（詳見章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源(電池組供電不用接AC220V電源，直接將放電開關(guān)撥到合的位置)，主機(jī)開機(jī)。

第六步：進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.2）

第七步：將放電開關(guān)撥到合的位置（電池組供電省略此步驟）。

第八步：“確定”開始測試。

1.4.3容量快測（選配功能）伺服系統(tǒng)的工作過程可以簡單理解為上位機(jī)（PL控制卡）發(fā)出脈沖信號驅(qū)動伺服電機(jī)，由上位機(jī)來控制整個伺服運(yùn)動，編碼器是一個反饋單元，用來檢查伺服電機(jī)執(zhí)行了多少脈沖信號并反饋給驅(qū)動器，從而進(jìn)行閉環(huán)控制。伺服電機(jī)編碼器是安裝在伺服電機(jī)末端用來測量伺服電機(jī)轉(zhuǎn)角及轉(zhuǎn)速的一種傳感器，通常內(nèi)置在伺服電機(jī)末端。伺服電機(jī)編碼器，目前自控領(lǐng)域常用的是光電編碼器和磁電編碼器。光電編碼器通過光電碼盤反射光信號數(shù)量確定電機(jī)轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動角度，而磁電編碼器通過磁場感應(yīng)元器件來感應(yīng)電機(jī)轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動所帶來的磁場變化來確定電機(jī)轉(zhuǎn)子位置。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節(jié)2.4）。

步：放電開關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會告警提示。（詳見章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源，主機(jī)開機(jī)。

第六步：進(jìn)入容量快測參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.3）

第七步：將放電開關(guān)撥到合的位置。

第八步：“確定”開始測試?？煽啃允菍Ξa(chǎn)品耐久力的測量，我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。集成電路的失效原因大致分為三個階段：階段被稱為早期失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率快速下降，造成失效的原因在于IC設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中的缺陷；階段被稱為偶然失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機(jī)的，比如溫度變化等等；階段被稱為損耗失效期，這個階段產(chǎn)品的失效率會快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。單體蓄電池充電放電測試儀 HN1016B 直流接地故障查找儀試驗(yàn)方法