HN1015A蓄電池充放電，活化測(cè)試儀 整組蓄電池充電放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀試驗(yàn)方法

本儀器是針對(duì)整組蓄電池系列測(cè)試，不同規(guī)格型號(hào)對(duì)整組要求不同，具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V（根據(jù)具體指標(biāo)定）的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測(cè)試的儀器。

測(cè)試步驟介紹另外，重心法需要使用至少兩根譜線，而且受窗函數(shù)主瓣寬度限制，頻率重心法所能支持的頻率下限只能達(dá)到頻率分辨率的三倍以上。由于頻率重心法沒有反饋過程，不依賴于信號(hào)，模擬電路實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單，理論上只要采樣率和使用的數(shù)據(jù)點(diǎn)足夠，就能得到正確的結(jié)果。特別地，因?yàn)橥讲蓸有枰布娐?，受限與成本與體積，大部分測(cè)量?jī)x器只支持一到兩個(gè)PLL源，而頻率重心法無此限制，甚至可任意定義基波源（對(duì)應(yīng)于PLL源，用于確定基波）。應(yīng)用實(shí)例PA功率儀提供了三種諧波模式：常規(guī)諧波、諧波和IEC諧波。

1.4.1在線監(jiān)測(cè)測(cè)試：

步：連接單體電壓采集器。（詳見章節(jié)2.4）

步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組兩端。（詳見章節(jié)2.5）

步：插入電源，主機(jī)開機(jī)。

第四步：進(jìn)入在線監(jiān)測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.1）

第五步：“確定”開始測(cè)試。

1.4.2 放電測(cè)試：半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節(jié)2.4）。純負(fù)載不具此功能

步：放電開關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源(電池組供電不用接AC220V電源，直接將放電開關(guān)撥到合的位置)，主機(jī)開機(jī)。

第六步：進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.2）

第七步：將放電開關(guān)撥到合的位置（電池組供電省略此步驟）。

第八步：“確定”開始測(cè)試。

1.4.3容量快測(cè)（選配功能）先前，我們介紹過幾種主要的測(cè)距/距離傳感器的原理及特點(diǎn)，其中，激光測(cè)距傳感器因其抗干擾能力強(qiáng)，精度高的優(yōu)勢(shì)，自誕生以來，得到了的發(fā)展，在各行各業(yè)都發(fā)揮著巨大的作用。年世界上臺(tái)紅寶石激光器問世不久，以精密測(cè)距為主要功能的激光測(cè)距技術(shù)便隨之誕生了。臺(tái)紅寶石激光器經(jīng)過了5多年的發(fā)展，其發(fā)展大致表現(xiàn)在兩個(gè)方面：是應(yīng)用新技術(shù)和設(shè)備提高測(cè)距精度和觀測(cè)數(shù)據(jù)量；其次是提高測(cè)距系統(tǒng)的自動(dòng)化程度，減小人力和物力的消耗。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節(jié)2.4）。

步：放電開關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源，主機(jī)開機(jī)。

第六步：進(jìn)入容量快測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.3）

第七步：將放電開關(guān)撥到合的位置。

第八步：“確定”開始測(cè)試。關(guān)于光譜入門光譜是一種測(cè)量技術(shù)；它通過測(cè)量材料與不同波長(zhǎng)光的相互作用情況來檢查材料的屬性。有幾種不同的交互作用可被測(cè)量，包括材料對(duì)光的吸收、反射和透射。材料的特性可通過測(cè)量有多少光能被吸收以及哪些波長(zhǎng)的能量被吸收進(jìn)行。吸收的波長(zhǎng)取決于材料成分——脂肪、蛋白質(zhì)和不同類型的糖分子——而吸收的強(qiáng)度由材料的內(nèi)部成分的濃度決定。根據(jù)由材料表面層反射光的強(qiáng)度和波長(zhǎng)，也可以對(duì)材料進(jìn)行定性，而反射光的強(qiáng)度和波長(zhǎng)由成分和表面本身的屬性決定。整組蓄電池充電放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)故障測(cè)試儀試驗(yàn)方法