HNXZ-270kva/70kv調(diào)頻式串聯(lián)諧振耐壓裝置 (規(guī)格廠家選定)
交流耐壓試驗裝置 HNNY 帶時間直流高壓發(fā)生器

一、產(chǎn)品概述

該裝置主要針對電纜，電機等及其系統(tǒng)的交流耐壓試驗設(shè)計制造。電抗器采用多只分開設(shè)計，既可滿足高電壓、小電流的設(shè)備試驗條件要求的耐壓設(shè)備。

2、主要功能及其技術(shù)特點：

裝置具有過壓、過流、零位啟動、系統(tǒng)失諧（閃落）等保護功能，過壓過流保護值可以根據(jù)用戶需要整定，試品閃落時閃落保護動作并能記下閃落電壓值，以供試驗。

自動掃頻時頻率起點可以在規(guī)定范圍內(nèi)任意設(shè)定，掃頻方向可以向上、向下選擇，同時彩色液晶大屏幕顯示掃描諧振、升壓、記時曲線方便使用者直觀了解是否找到諧振點。

中藥的成分非常復雜,以往常用的薄層色譜等方法因其精密度、準確度、靈敏度、重現(xiàn)性差而不能滿足現(xiàn)代中藥的需要。液相色譜正是以其穩(wěn)定、可靠、的特點成為中藥研究的重要的方法。目前液相色譜已經(jīng)廣泛應(yīng)用于生物堿、皂苷、黃酮、蒽醌、香豆素等中藥有效成分的測定。近年來對液相色譜監(jiān)測中藥的研究非常多,由于液相色譜集經(jīng)典液相色譜和氣相色譜的優(yōu)勢于一身,無論柱效、選擇性還是程度都達到或超過了它們,近年來對液相色譜的不足之處進行了改進,使這項技術(shù)日臻完善。

二、技術(shù)參數(shù)

1、-指生產(chǎn)廠家代碼

210kVA指設(shè)備能輸出的額定容量，單位為kVA

70kV指設(shè)備能輸出的電壓等級，單位為kV；（電壓值根據(jù)具體需要）

2、技術(shù)指標

（1）額定電壓：

70kV---滿足10kV電纜的交流耐壓試驗；

（2）輸出電壓波形畸變率：<1.0％

（3）允許連續(xù)工作時間：額定條件下一次性工作30分鐘，在對電纜耐壓時，滿足連續(xù)工作60分鐘

（4）裝置自身品質(zhì)因數(shù)：Q>50

（5）電纜試驗時滿負荷下品質(zhì)因數(shù)：Q>30（與負載相關(guān)）

（6）輸入電源：單相380V/220V

（7）頻率調(diào)節(jié)范圍：30Hz～300Hz

（8）系統(tǒng)測量精度：1.5％

（9）裝置具有過壓、過流、零位啟動等保護功能

3、技術(shù)參數(shù)

（1）電源控制箱 1臺

額定功率：4.5kW；

輸入電壓：單相 380V/220V±15%  50Hz

輸出電壓：0～400V可調(diào)

輸出電壓頻率：30～300Hz  

0.1Hz步進可調(diào) 

頻率不穩(wěn)定度≤0.02%

輸出電流：0～11.25A

（2）電抗器 3臺

額定工作電壓：25kV

額定工作電流：1A

額定電感量：100H

連續(xù)工作時間：60分鐘

溫    升：小于60度

工作頻率：30~300Hz

（3）勵磁變壓器 1臺

額定容量：4.5kVA

輸入電壓：400V/200V

輸出電壓：1kV/3kV

輸出電流：4.5A/1.5A

 TestCenter具有完全自主的知識產(chǎn)權(quán)。2012年，TestCenter入選國防科技工業(yè)百項先進工業(yè)技術(shù)研究推廣應(yīng)用工程。如所示，為Testercenter的界面，TestCenter可以在多個測試領(lǐng)域中被應(yīng)用，包括消費類電子產(chǎn)品及裝備的電路板級、模塊級、系統(tǒng)級的功能測試與故障診斷。Testcenter界面IEEE1232標準簡介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛，為了規(guī)范測試診斷過程和實現(xiàn)診斷知識的共享，IEEE制訂了人工智能應(yīng)用于系統(tǒng)測試與診斷領(lǐng)域的通用標準即IEEE1232標準，也稱作AI-ESTATE標準。

（4）電容分壓器-50kV

電容量：1000pF

額定電壓:70kV

工作頻率：30～300HZ半導體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。它能探測咖啡機中的水位或者奶瓶容器中牛奶的液位，也能探測洗衣機中洗衣液的用量。液位測量分為兩種：點液位測量：這種測量方式，傳感器被安置在容器上的不同的區(qū)域，用于檢測容器滿或空的狀態(tài)，并顯示單個的較低分辨率的不連續(xù)的液位高度。連續(xù)液位測量：正如其名所示，這種傳感器可以探測到液位的細微變化。每種傳感器都有其各自的使用方式。本文主要介紹連續(xù)測量和確保測量精度的一些重要因素。目前已有多種液位測量方法，包括：磁性浮子：將磁體安裝在一個隨容器液位變化而移動的浮子上，并會促發(fā)桿體中密封的“舌簧開關(guān)”。

（5）測試線及附件 1套