青島華能供應(yīng) 低效高法電壓互感器現(xiàn)場校驗裝置 定制定做HN10A互感器特性綜合測試儀

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

測量校核型號的CT、PT，包括保護(hù)CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等. 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.冷鏈監(jiān)測的重要性在新版的GSP中，對于醫(yī)藥企業(yè)的倉儲溫濕度實時監(jiān)測、冷鏈物流以及運輸?shù)阮I(lǐng)域提出了更高的要求。而在此變革環(huán)境下，醫(yī)藥冷鏈面臨著一系列深刻的變革。然而，從現(xiàn)況來看，醫(yī)藥冷鏈容易斷鏈的環(huán)節(jié)就是藥品的冷鏈運輸環(huán)節(jié)。而對于冷鏈運輸與環(huán)節(jié)來說，其為重要的部分就是實現(xiàn)全程的溫度監(jiān)控，以限度確保藥品品質(zhì)，減小損耗，從而盡可能滿足消費者的需求。對于大多數(shù)醫(yī)用血液、生物制劑、疫苗和藥品而言，在貨物運輸過程中由于其所含蛋白質(zhì)成分易受環(huán)境溫度變化的影響導(dǎo)致變質(zhì)現(xiàn)象發(fā)生，而溫度敏感**品的流通**是藥品**的重要組成部分，因此需要非常嚴(yán)格的溫度監(jiān)控。

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

具體接線步驟和說明如下：

斷開電力線與CT一次側(cè)的連接，未接地的電力線較長，會給CT一次側(cè)的測量引入較大干擾，參見圖3.4。

將CT一次側(cè)一端連接至CTPT儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)黑色端子將CT一次側(cè)另一端連接至CTPT儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)紅色端子將CTPT儀的接地柱連接到保護(hù)地PE將按照圖3.3所示，斷開被測CT二次側(cè)和二次負(fù)荷的連接在對變比值相同的多繞組電流互感器進(jìn)行CT或CT比差角差測試時，沒有測試的二次繞組應(yīng)短接，否則測試誤差將會偏大保護(hù)10P10，和微波暗室的測試目的一樣，TEMCELL也是一個模擬理想空間的天線測試環(huán)境，金屬箱能夠提供足夠的功能來消除外部干擾對天線的影響，而內(nèi)部的吸波材料也能吸收入射波，減小反射波。TEMCELL不能對天線進(jìn)行無源測試，只能對有源指標(biāo)進(jìn)行測試。由于空間限制，TEMCELL的吸波材料比較薄，而對于劈狀吸波材料，是通過劈尖間的多次反射增加對入射波進(jìn)行吸收，因此微波暗室里的吸波材料都比較厚，而TEMCELL的吸波材料都不購厚，因此對入射波的吸收都不是很充分，因此會導(dǎo)致測試的結(jié)果不。暫態(tài)TPY三個繞組的2000/1的CT，進(jìn)行0.5級繞組的比差角差測量時應(yīng)按照圖3實際的電路設(shè)計中，由于晶體管的開關(guān)以及實際互連線的特性等原因?qū)е码娫丛谝欢ǚ秶鷥?nèi)波動。當(dāng)實際供電值高于波動上限時，就會引起芯片工作的可靠性問題；當(dāng)實際供電值低于下限時會導(dǎo)致芯片的工作性能降低甚至不能工作；當(dāng)電壓波動幅度較大時，可能會直接影響相關(guān)電路的信號質(zhì)量。基于上述這些問題，隨著單板高速高密度的發(fā)展，電源完整性已經(jīng)成為制約設(shè)計的一個重要因素。在硬件設(shè)計和調(diào)測過程中，必須保證電源電路高質(zhì)量工作。.4.1進(jìn)行接線具體接線步驟和說明如下：將CTPT儀的接地柱連接到保護(hù)地PE將按照圖3.6所示，斷開PT二次側(cè)和二次回路的連接將CTPT儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至二次負(fù)荷的一端，參見圖3.6將CTPT功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至二次負(fù)荷的另一端為了消除接觸電阻的影響，在連接CTPT儀的端子時，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)SAFTehnika是世界微波數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備制造商之一,業(yè)務(wù)遍及13多個。SC頻譜儀作為其重點推出的產(chǎn)品，以輕巧、方便、簡單的優(yōu)勢，專為現(xiàn)場工程師量身設(shè)計。虹小科帶來5分鐘SAF實用小——視距傳播（LOS）探勘指南。歡迎觀看了解~虹小科溫馨提示：長達(dá)將近5分鐘，建議在WiFi環(huán)境下觀看哦~探勘過程要求2個團(tuán)隊的合格人員合作完成與語音通信設(shè)備。必備的工具SAFSpectrumCompact(SC)-SAF便攜式頻譜儀。青島華能供應(yīng) 低效高法電壓互感器現(xiàn)場校驗裝置 定制定做