HN8000兆歐表檢定裝置

HN8000型兆歐表檢定裝置是根據(jù)JJG622-1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》，JJG 1005-2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》，DL/T 979-2005 《直流高壓高阻箱檢定規(guī)程》之要求設(shè)計(jì)制造的新型絕緣電阻表檢定裝置，其測(cè)試電壓可達(dá)10000V。各項(xiàng)指標(biāo)均符合規(guī)程的要求。它不僅能檢定型號(hào)、不同規(guī)格的國(guó)產(chǎn)、進(jìn)口絕緣電阻表（兆歐表），而且可用作高阻計(jì)的檢定。Mentor嵌入式多核框架能消除異構(gòu)硬件和軟件環(huán)境的管理復(fù)雜性，從而簡(jiǎn)化SoC系統(tǒng)設(shè)計(jì)異構(gòu)多處理對(duì)于當(dāng)今的嵌入式應(yīng)用來(lái)說(shuō)正變得越來(lái)越重要。片上系統(tǒng)(SoC)架構(gòu)，賽靈思的ZynqUltraScale+MPSoC提供包含四個(gè)ARMCortex-A53內(nèi)核以及兩個(gè)ARMCortex-R5內(nèi)核的強(qiáng)大異構(gòu)多處理基礎(chǔ)架構(gòu)。除了核心的計(jì)算基礎(chǔ)架構(gòu)外，SoC還包含一系列豐富的硬化外設(shè)IP和FPGA架構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)靈活的設(shè)計(jì)模式，從而幫助系統(tǒng)開(kāi)發(fā)人員創(chuàng)建高性能多處理系統(tǒng)。

2.5 結(jié)構(gòu)

    采用十進(jìn)制步進(jìn)序列，高阻部分和低阻部分分開(kāi)的分體式結(jié)構(gòu)，其中高阻部分采用密封式鑄鋁機(jī)箱，電阻輸出范圍10⁹~10¹²Ω，低阻部分采用半封閉式鐵皮機(jī)箱，電阻輸出范圍10²~10⁹Ω；端電壓測(cè)量范圍100V~10kV。

2.6  兆歐表檢定裝置未列指標(biāo)均符合高阻箱檢定規(guī)程之要求。

2.7  體積、重量：618×290×130（mm）、20kg所以，熔接前要根據(jù)系統(tǒng)使用的光纖和工作波長(zhǎng)來(lái)選擇合適的熔接程序。如沒(méi)有情況，一般都選用自動(dòng)熔接程序。制作光纖端面。光纖端面制作的好壞將直接影響接續(xù)質(zhì)量，所以在熔接前一定要做好合格的端面。用的剝線鉗剝?nèi)ネ扛矊?，再用沾酒精的清潔棉在裸纖上擦拭幾次，用力要適度，然后用精密光纖切割刀切割光纖，對(duì)0.25mm(外涂層)光纖，切割長(zhǎng)度為8mm-16mm，對(duì)0.9mm(外涂層)光纖，切割長(zhǎng)度只能是16mm。

使用方法

5.1 使用前的準(zhǔn)備

檢查裝置中各開(kāi)關(guān)能否正常旋轉(zhuǎn)，端電壓表能否正常顯示。

5.2  數(shù)字式兆歐表電阻測(cè)量功能的檢定

5.2.1 按圖4要求接線（同名端相接）。

5.2.2選擇全檢量程調(diào)節(jié)旋鈕直接輸出對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)電阻值，記錄數(shù)字式兆歐表的讀數(shù)，依據(jù)公式算出相對(duì)誤差：

式中：δ —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值的相對(duì)誤差，%；

R_x —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值，Ω；

R_n —— 檢定裝置電阻標(biāo)稱值，Ω。

5.3  指針式兆歐表電阻測(cè)量功能的檢定

5.3.1 按圖5要求接線（同名端相接）。

5.3.2 按兆歐表中的被檢分度值預(yù)置高阻箱的電阻值。

5.3.3 啟動(dòng)恒轉(zhuǎn)速源（轉(zhuǎn)速設(shè)定在120轉(zhuǎn)/分，若需其它轉(zhuǎn)速，按增、減速鍵即可）。

5.3.4 調(diào)節(jié)高阻箱的電阻值，使得兆歐表指針與被檢分度線重合，高阻箱示值即為被檢分度值對(duì)應(yīng)的實(shí)測(cè)值，依據(jù)公式(2)算出誤差：

式中：δ —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值的相對(duì)誤差，%；

R_x —— 被檢兆歐表電阻分度線數(shù)值，Ω；

R_n —— 被檢分度線數(shù)值對(duì)應(yīng)的實(shí)測(cè)值，Ω。

5.3.5 按同樣方法順序檢定每個(gè)標(biāo)有數(shù)值的分度線。

5.3.6本裝置由低阻部分和高阻部分組合而成，當(dāng)被檢兆歐表分度值大于1GΩ時(shí)，需將高阻部分與低阻部分接連使用，其連線方式如下圖： 

當(dāng)前的電子電路(比如電子測(cè)量?jī)x器、多媒體產(chǎn)品)的電平切換速度、信號(hào)復(fù)雜度比以前更高，同時(shí)芯片的封裝和信號(hào)幅值卻越來(lái)越小，對(duì)電源波動(dòng)更加敏感。電路設(shè)計(jì)者們比以前會(huì)更關(guān)心電源端帶來(lái)的影響。以ZDS2024示波器本身為例，內(nèi)部的主電源為一個(gè)開(kāi)關(guān)電源，主板上的電源分配網(wǎng)絡(luò)要把這個(gè)直流電源變成電壓的直流電源(如：+-5V,+3.3V,+12V等等)，給CPU以及各個(gè)芯片供電，同時(shí)我們的風(fēng)扇也是隨時(shí)溫度動(dòng)態(tài)的在變化。

7.1  該檢定裝置應(yīng)在干燥、無(wú)腐蝕氣體、無(wú)陽(yáng)光直射、無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾、溫度在23℃±5℃、相對(duì)濕度≤75%的環(huán)境中使用。

7.2  如因存放、使用不善，使得該裝置受潮，出現(xiàn)干燥劑變色，除更換干燥劑外，還需用小于50℃的干燥熱風(fēng)對(duì)裝置內(nèi)部（特別是高阻值部分）進(jìn)行去濕處理后方能保證該裝置的正常使用。

7.3  檢定裝置若長(zhǎng)時(shí)間未使用，在再次使用前應(yīng)將電阻調(diào)節(jié)開(kāi)關(guān)從頭至尾轉(zhuǎn)動(dòng)數(shù)次，保證其接觸良好。就效率測(cè)試這一點(diǎn)來(lái)說(shuō)，電機(jī)驅(qū)動(dòng)器也是一樣的。為了保證電機(jī)的效率和電機(jī)驅(qū)動(dòng)器效率測(cè)試的準(zhǔn)確性，必須保證兩者是在同一個(gè)負(fù)載下時(shí)對(duì)效率進(jìn)行測(cè)量的，也就是說(shuō)，要保證在同一個(gè)時(shí)間點(diǎn)下進(jìn)行采集。這里一般會(huì)用到多通道的功率儀進(jìn)行測(cè)量，如下圖，就是一種非常常用的對(duì)變頻電機(jī)及變頻器進(jìn)行同步測(cè)試的方法。在此系統(tǒng)中，變頻器(電機(jī)驅(qū)動(dòng)器)的三相輸入、三相輸出、電機(jī)的轉(zhuǎn)速扭矩輸出都接到同一臺(tái)設(shè)備(功率儀)上進(jìn)行采集，并通過(guò)設(shè)備內(nèi)部的效率運(yùn)算工具實(shí)現(xiàn)對(duì)電機(jī)、電機(jī)驅(qū)動(dòng)器及整個(gè)系統(tǒng)的效率同步測(cè)量。青島華能供應(yīng) 兆歐表校準(zhǔn)儀 廠家直供